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F-SLGS1040 雙棱鏡干涉實驗

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更新時間：2022-08-20 10:41:44瀏覽次數：256次

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產品簡介

F-SLGS1040雙棱鏡干涉實驗調整光路，觀察分波面干涉的干涉條紋，體會分波面的干涉原理和干涉理論

詳細介紹

F-SLGS1040 雙棱鏡干涉實驗

光學實驗導軌：1200mm。
半導體激光器：650nm, 4mW。
透鏡(帶框)： f=100mm，f=60mm，通光直徑：38mm。
激光功率指示計：三位半數字表頭，量程：200μW, 2mW, 20mW, 200mW，可調檔。最小分辨率0.1u W。
大一維位移架+12檔光探頭：位移范圍100mm，精度0.02mm，光欄直徑：0.5、1、2、3、4、6mm。光欄寬度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm。
一維可調導軌滑塊：調整范圍：10mm。

采用高穩定度和長相干性的半導體激光器作為光源，以帶有小孔和狹縫光欄的功率計作為光強分布的探測器，與傳統的讀數顯微鏡方案相比，本實驗采用的方案更加客觀準確。

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