ICT3100數字IC品質分選測試儀
數字IC多值邏輯測試儀，是通過總結國外同類產品的優點,本著實用、方便、測試精準的宗旨，面向國內外市場推出的數字IC參數測試儀（并且在不斷地完善之中）。該儀器特別適合，整機生產廠商及其它IC應用廠家的器件級進廠測試。目前，對中小規模數字IC進行簡單的邏輯功能測試，已不能滿足IC用戶的測試需求。ICT3100 數字IC多值邏輯測試儀，利用開創的多值參數比較法，可以對數字IC進行功能測試并同時完成各項直流參數測試。ICT3100可以滿足IC用戶的參數測試要求。ICT3100是一種性能實用、操作簡單、測試可信度高、成本低廉的優良測試儀器。
主要特點：
1． 測試電源拉偏狀態下，輸出電平加載測試。
2． 對輸出電流、輸出電壓直流參數進行測試的同時，完成真值表功能測試。
3． 真值表功能測試的同時，完成“三態"（高阻狀態）漏電流測試。
4． 對IC輸入電流、功耗電流測試。
5． 輸入漏電流及交叉漏電流測試。
6． 測試過程無須人工干預。
7． 用戶可以自選測試模式，使用方便、操作簡潔。
8． 可自動識別74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型號。
目前ICT3100的作用單位已遍及通信、電子儀器、電力電子、辦公自動化設備、計算機整
機、交通電子、消防科學器材等各個領域，并獲用戶。
技術規格：
產品主要性能：
在功能測試的基礎上
□ 測試器件的輸入端注入電流。
□ 測試器件的輸入端交叉漏電流。
□ 測試器件的輸出端“三態"及“OC"門。
□ 測試器件的輸出負載電流。
□ 測試器件的功耗電流。
□ 查找未知芯片型號。
□ 可以單次測試，也可以循環測試.
□ 可自動識別74系列中的CMOS器件
（如：74C、74HC、74HCT等）。
當被測芯片被確認為74系列CMOS器件時，儀器將自動地對其進行測試并在顯示屏前顯示一
個“C"字（此時被測器件電源為TTL電源）。
本產品所提供的多值測試參數：
□ 8種可選擇的測試電源。
□ 根據不同材料的IC設置多種輸入端注入電流。
□ 多種測試電壓比較值。
□ 功耗測試。
以上參數的不同組合構成不同的測試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測試模式。
測試模式：
模式O： 全組合參數測試。
模式1-C：操作與模式O相同，但各有其不同的測試參數數值。
模式D： 任選輸入負載電流及測試電源和輸入電流測試。
模式E： 自檢。內容包括計算機部分、顯示、鍵盤及測試管腳電路。
模式F： 自編程測試。
測試范圍及測試品種：
□ 54 系列；4500 系列；
□ RAM 256K bit
□ 74 系列；40000 系列；
□ EPROM 64K bit
□ 4000 系列；C00 系列。
□ 光耦
目前市場上所見到的某些功能測試儀無法對IC器件進行直流參數測試和比較，因此會把
74LS373與74LS374、74LS352、74LS353、74LS125與74LS32及OC門與圖騰柱輸出門等功能性
能特性不一致的器件混為一類。這種儀器實用價值很低，用儀器測試通過后，有時上
機卻不能正常使用。本產品絕不會發生類似錯誤。
該產品*適合器件生產廠、整機生產廠作器件測試篩選之用，也適合科研、學校、部
隊、IC經銷商使用。它是科技工程技術人員開發新產品的得力工具。
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