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介質(zhì)損耗測試裝置 SWY916

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更新時間：2023-03-08 07:28:16瀏覽次數(shù)：146次

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成都福克儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

SWY916介質(zhì)損耗測試裝置與SWY2851D、SWY2853D Q表及電感器配用，能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值和介電常數(shù)的測試。SWY916介損耗測試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。絕緣材料高頻介損和介電常數(shù)測試裝置.絕緣材料高頻介損和介電常數(shù)測試裝置.SWY916介質(zhì)損耗測試裝置

詳細(xì)介紹

SWY916介質(zhì)損耗測試裝置

1 特點

SWY916介損耗測試裝置與SWY2851D、SWY2853D Q表及電感器配用，能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值和介電常數(shù)的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

2工作特性

2.1 平板電容器：

2.1.1 極片尺寸：

SWY916-38：Φ38mm， SWY916-50：Φ50mm

2.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：

≥10mm， ±0.005mm

2.2 夾具插頭間距：

25mm±1mm

2.3 夾具損耗角正切值

≤2.5×10-4

3 工作原理

本測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化，將測試數(shù)據(jù)輸入電腦，通過公式計算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計算得到介電常數(shù)。

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