手持式地質勘探光譜分析儀主要基于X射線熒光（XRF）技術或近紅外（NIR）及中紅外（MIR）光譜技術。在XRF技術中，儀器通過發射高能X射線使樣品中的元素激發，當這些元素回到基態時釋放出特征的二次X射線（即熒光）。通過測量這些熒光的強度和波長，可以定性和定量地分析樣品中的各種元素。
近紅外和中紅外光譜技術則利用特定波長的紅外光與樣品分子的振動模式相互作用，產生吸收或反射光譜。該光譜能夠提供關于樣品分子結構的詳細信息，適用于有機物質和部分無機物的分析。
手持式地質勘探光譜分析儀的核心部分組成：
1.光源：通常是X光管或近紅外/中紅外光源，用于發出初級輻射。
2.探測器：如半導體探測器或光電二極管，負責捕捉樣品發出的二次輻射或反射光線。
3.處理器與存儲器：強大的計算單元和存儲系統，用于處理數據和存儲分析結果。
4.顯示與輸入設備：觸摸屏或按鈕界面，便于用戶操作和查看數據。
5.外殼與電源：耐用的外殼保護內部元件，內置充電電池確保現場使用的連續性。
顯著特點：
1.便攜性：重量輕、體積小，便于野外攜帶和操作。
2.非破壞性分析：無需復雜前處理，直接對樣品進行檢測，保護樣品完整性。
3.實時分析：快速提供分析結果，提高決策效率。
4.多元素同時檢測：一次測量可獲得多種元素信息，提升工作效率。
5.用戶友好：直觀的操作界面，簡化用戶操作流程。
6.數據管理：可存儲大量數據，支持后續分析和報告生成。
手持式地質勘探光譜分析儀的應用場景：
1.礦產資源勘探：快速識別礦體，評估礦石品質，提高勘查效率。
2.環境監測：檢測土壤和水體中的有害元素，保護生態環境。
3.農業：評估土壤肥力和作物營養狀態，指導精準農業。
4.考古研究：分析文物和遺址材料成分，揭示歷史秘密。
5.建筑材料檢測：確保建筑材料符合安全標準。
6.地質調查：探測地下溶洞、金屬和非金屬礦物，輔助地質研究。
4
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務