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微量視頻粘度計/流變儀分析儀微流控可視流變儀被設計用于測試各種稠度樣品的粘度，包括液體、凝膠或半固體乳液。當樣品和參比樣在芯片通道中高速流動時，獲取微型芯片中兩...

全自動真密度分析儀全自動真密度計BELPYCNO L，是成熟的固體材料，糊狀或液體的真密度測試儀。基于氣體置換技術，儀器可以測定單一材料的真實密度，也可以測試兩...

全自動真密度分析儀Microtrac MRB全新設計的BELPYCNO采用氦氣、氮氣和SF6 等惰性氣體做為置換介質。樣品密封在已知體積的樣品室中，一定壓力的惰...

全自動容量法高壓氣體吸附儀催著催化技術研究，儲氫和燃料電池材料的發展和油田煤層氣、頁巖氣開發再利用的不斷深入，氣體在高壓下的吸附性能表征變得越來越普遍。頁巖和煤...

單組分/多組分混合氣體/蒸汽氣體/蒸汽吸附儀設備應用：氣體儲能材料：如MOF，氫化物吸附質的評價：CO2，CO,O2，乙烯等氣體分離的研究：變壓反應高聚物的CO...

PMX納米顆粒追蹤分析儀Particle Metrix 致力于拓寬ZetaView納米顆粒追蹤分析儀經典型號PMX-120的應用領域，現已將納米顆粒追蹤分析儀從...

納米顆粒跟蹤分析儀Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術，結合經典微電泳技術和布朗運動成為現代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性...

高分辨率全自動高速X射線顯成像系統SKYSCAN 1275 專為快速掃描多種樣品而設計。該系統采用一個功能強大的廣角X 射線源（100 kV）和高效的大型平板探...

多量程納米顯微成像系統高分辨率（XRM）SKYSCAN 2214 是布魯克推出的新納米斷層掃描系統，是顯微 CT 技術領域的，在為用戶帶來了終級分辨率的同時,提...

高分辨率X射線顯微CT（XRM）顯微CT即Micro-CT，為三維X射線成像，與醫用CT（或“CAT"）原理相同，可進行小尺寸、高精度掃描。通過對樣品內部非常細...

桌面型高分辨率能量X射線顯微Skyscan 1273是Bruker全新的基于微型計算機斷層掃描（Micro-CT）技術的臺式3D X射線顯微成像系統。最大可容納...

結晶分析儀（相變分析儀）0Rheolaser Crystal基于先進光學原理，結合無侵入式測量、精確溫度控制和足夠大的樣品量（0.1-5g），可以深入地了解非均...

3D動態顆粒圖像分析儀動態圖像分析方法（DIA）是一種可以生成并存儲運動顆粒的數字化圖像，并且通過分析圖像來識別顆粒特征的分析方法。根據顆粒在圖像上占據的位置和...

干法在線動態圖像分析儀CAMSIZER ONLINE系統可以輕松地根據您的質量控制程序進行校準。CAMSIZER ONLINE可以一次分析32種形態參數，包括尺...

在線粒度分析系統積空間內，葉輪停止運動后，探頭內的樣品溶液會逐漸降至靜止狀態（防止溶液流動影響粒布朗運動），同時探頭外的樣品處于正常的生產流動中，NANO-fl...

QSN/G 750-II R 全自動光譜儀德國OBLF公司位于德國中部的多特蒙德，成立于1975年，是德國***早生產光電直讀光譜儀的高科技公司，公司采取了走*...

QSG750-Ⅱ型真空直讀光譜儀，該款直讀光譜儀采用高穩定、高精度、高檢測限的光電倍增管及在真空光室技術,具有操作簡單、使用方便；儀器穩定、數據準確等特點。

VeOS型真空直讀光譜儀產品描述*專為直讀光譜儀研發制造的半導體光敏檢測器，其感光能力比常規檢測器高100倍以上，覆蓋元素檢測波長范圍

GS1000-Ⅱ型真空直讀光譜儀產品描述1、光譜儀光學系統采用真空光室，積分及控制電路置于真空光室中，可不受外界環境變化的影響，測定各種元素含量結果準確，重現性...

QSN750-Ⅱ型真空直讀光譜儀OBLF公司直讀光譜儀具有以下的顯著特點：1，光譜儀光學系統采用真空光室，積分及控制電路置于真空光室中，可不受外界環境變化的影響...