美國TA蒸汽吸附分析儀5000 SA/VTI-SA+ 綜合熱分析儀
5000 SA/VTI-SA+ ¥12
藝橋科技（香港）有限公司
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| 產地 | 進口 | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 適用范圍 | 其他 |
T3Ster熱阻測試儀
T3Ster是Mentor Graphics公司研發制造的*的熱瞬態測試儀，用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性。
T3Ster熱阻測試儀
品牌：Mentor Graphics
產品描述：
T3Ster是Mentor Graphics公司研發制造的*的熱瞬態測試儀，用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性。T3Ster基于*的JEDEC ‘Static Method’測試方法（JESD51-1），通過改變電子器件的輸入功率，使得器件產生溫度變化，在變化過程中，T3Ster測試出芯片的瞬態溫度響應曲線，僅在幾分鐘之內即可分析得到關于該電子器件的全面的熱特性。
T3Ster測試技術不是基于“脈沖方法”的熱測試儀，“脈沖方法”由于是基于延時測量的技術所以其測出的溫度瞬態測試曲線精度不高，而T3Ster 采用的是“運行中”的實時測量的方法，結合其精密的硬件可以快速精確撲捉到高信噪比的溫度瞬態曲線。
T3Ster 的應用范圍及功能
★應用范圍:
Ø 各種三極管、二極管等半導體分立器件，包括：常見的半導體閘流管、
雙極型晶體管、以及大功率 IGBT、MOSFET、LED 等器件；
Ø 各種復雜的 IC 以及 MCM、SIP、SoC 等新型結構 ；
各種復雜的散熱模組的熱特性測試，如熱管、風扇等 。
★功能：
Ø 半導體器件結溫測量；
Ø 半導體器件穩態熱阻及瞬態熱阻抗測量；
Ø 半導體器件熱阻和熱容測量，給出器件的熱阻熱容結構（RC 網絡結構）；
Ø 半導體器件封裝內部結構分析，包括器件封裝內部每層結構（芯片+焊接層+熱沉等）的熱阻和熱容參數；
Ø 半導體器件老化試驗分析和封裝缺陷診斷，幫助用戶準確定位封裝內部的缺陷結構。
Ø 材料熱特性測量（導熱系數和比熱容）
Ø 接觸熱阻測量，包括導熱膠、新型熱接觸材料的導熱性能測試。
★工作原理：
T3Ster熱阻測試儀
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