中國顆粒學會青年顆粒學獎，是郭慕孫院士用所獲得的何梁何利基金獎的全部獎金和個人部分積蓄設立“青年顆粒學基金”，中國顆粒學會利用此基金于1997年設立了“中國顆粒學會青年顆粒學獎”，旨在鼓勵顆粒學領域做出突出貢獻的青年科技工作者。經國家科學獎勵辦公室正式批準，“中國顆粒學會青年顆粒學獎” 是國家承認的社會力量設立的科學技術獎。
范繼來從事顆粒測試技術研究16年，他和他所帶領的團隊以特有的執著和科學的方法，在激光粒度測試理論、反演計算、光學系統、顆粒折射率測量、圖像顆粒分析技術領域取得了一項又一項成果，取得11項，其中激光粒度測試雙鏡頭光學系統、正反傅里葉結合光學系統、顆粒折射率測量技術為，填補國內外顆粒測試技術空白，使中國顆粒測試技術擁有了系統性的自主知識產權，為中國顆粒測試技術趕超世界先進水平做出了突出貢獻。
在應用技術研究方面，以范繼來為首的研發團隊做了大量開創性的工作，推出了激光/圖像二合一粒度粒形分析系統、智能化粒度測試系統、納米粒度測試技術、動態圖像顆粒分析系統以及光通量補償技術等幾十項技術，使百特顆粒分析儀器的技術性能始終處于國內外地位，同時結束了中國顆粒測試儀器只能依靠進口的歷史。
2006年，百特總經理董青云曾獲得當年中國顆粒學會青年顆粒學獎，十二年后百特研發總監范繼來又獲得中國顆粒學會青年顆粒學獎，這不僅是對獲獎者個人取得成績的肯定， 更是顆粒測試界對百特長期以來致力于顆粒測試技術研發并取得突出成績的肯定。丹東百特將不負眾望，不辱使命，繼續致力于顆粒測試技術研究，致力于高水平顆粒測試儀器制造，為百特實現粒度儀器品牌的目標而繼續努力。
(原文標題：百特研發總監范繼來獲“中國顆粒學會青年顆粒學”獎)
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