【儀表網(wǎng) 儀表標準】由浙江省質(zhì)量協(xié)會組織，杭州高坤電子科技有限公司主起草的團體標準《半導(dǎo)體器件間歇工作壽命試驗設(shè)備》已完成征求意見稿，根據(jù)《團體標準管理規(guī)定》(國標委聯(lián)〔2019〕1 號)、《浙江省質(zhì)量協(xié)會團體標準管理辦法》(試行)的有關(guān)規(guī)定，現(xiàn)公開征求意見。
 

　　本文件按照GB/T 1.1—2020《標準化工作導(dǎo)則 第1部分：標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件參考GB/T 191 包裝儲運圖示標志；GB/T 4793.1 測量、控制和實驗室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分：通用要求；GB/T 5170.2—2017 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備；GB/T 6587—2012 電子測量儀器通用規(guī)范；GB/T 9969 工業(yè)產(chǎn)品使用說明書總則；GB/T 17626.2 電磁兼容性 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗；GB/T 17626.3 電磁兼容性 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗；GB/T 17626.4 電磁兼容性 試驗和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗等規(guī)范編制。
 

　　本文件規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路間歇工作壽命試驗設(shè)備的術(shù)語和定義、基本參數(shù)、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標志、使用說明書、包裝、運輸和貯存。本文件適用于Si/SiC二極管、三極管、MOSFET/IGBT等器件的間歇工作壽命試驗設(shè)備。
 

　　工作環(huán)境：
 

　　壽命試驗設(shè)備工作環(huán)境應(yīng)符合下列要求：a)環(huán)境溫度：5℃～35℃；b)相對濕度：≤80%RH；c)大氣壓強：86kPa～106kPa；d)電網(wǎng)電壓：AC220V±10%；e)電網(wǎng)頻率：50Hz±8Hz；f)周圍無強磁場干擾和有害氣體侵蝕；g)周圍無強烈振動，無其他熱源直接輻射。
 

　　外觀結(jié)構(gòu)：
 

　　1.設(shè)備外殼不得有明顯斑點、劃痕、色斑等缺陷，應(yīng)無危害安裝、正常使用或維護的尖端或銳邊。2.設(shè)備接插件插頭絕緣應(yīng)無任何破損，并接插穩(wěn)固。3.設(shè)備開關(guān)及按鍵應(yīng)靈活可靠，零部件裝配應(yīng)牢固，無卡澀、松動現(xiàn)象。4.試驗通道應(yīng)光滑平整、無變形、損失，箱門應(yīng)開關(guān)靈活，閉合緊密。5.設(shè)備整體尺寸應(yīng)符合設(shè)計圖紙要求，尺寸偏差應(yīng)為±5mm。6.說明性文字、符號、標志應(yīng)清晰、耐久。
 

　　試驗條件：
 

　　試驗應(yīng)在下列條件下進行：a)溫度：15℃～35℃；b)濕度：(40～60)%RH；c)大氣壓：86kPa～106kPa；d)電源：標稱交流電源；e)狀態(tài)：正常工作狀態(tài)。
 

　　型式試驗：
 

　　有下列情況之一，應(yīng)進行型式檢驗： a) 新產(chǎn)品或老產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)的試制定型鑒定時；b) 正式生產(chǎn)后，如結(jié)構(gòu)、材料、工藝等有較大改變，可能影響產(chǎn)品性能時； c) 正常生產(chǎn)，每年應(yīng)進行一次型式試驗；d)產(chǎn)品長期停產(chǎn)1年后，恢復(fù)生產(chǎn)時； e) 出廠檢驗結(jié)果與上次型式檢驗有較大差異時。
 

　　型式檢驗樣品應(yīng)從出廠檢驗合格的產(chǎn)品中隨機抽取2個樣品。型式檢驗全部項目合格應(yīng)判定型式檢驗合格，若有不合格項時，應(yīng)對不合格項進行復(fù)檢，復(fù)檢合格應(yīng)判定為合格，復(fù)檢仍不合格，應(yīng)判定型式檢驗不合格。