半導體導電型號鑒別儀型號：LDX-JH-WSP-8
LDX-JH-WSP-8型半導體導電型號鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導電類型“P”和“N”的測量儀器，是采用整流效應測量導電型號儀器，測量范圍廣。硅材料電阻率從10-2~104 Ω.cm，儀器采用美國16位單片集成電路計算機為核心，利用數字采集濾波技術，并用“P”“N”數碼直接顯示。
半導體導電型號鑒別儀
型號：LDX-JH-WSP-8
LDX-JH-WSP-8型半導體導電型號鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導電類型“P”和“N”的測量儀器，是采用整流效應測量導電型號儀器，測量范圍廣。硅材料電阻率從10-2~104 Ω.cm，儀器采用美國16位單片集成電路計算機為核心，利用數字采集濾波技術，并用“P”“N”數碼直接顯示。采用了單片機技術可使測量的準確度和穩定性大幅度提高。儀器采用手持式三探針探頭，使用簡單，操作方便，且壽命長，適合半導體材料廠、器件廠和科研部門需要。
用作太陽能多晶材料分選時，采用整流法，對<0.1Ω.cm的材料具有聲光報警功能，廣泛應用于太陽能電池生產的原材料篩選環節，快速高效。
主要技術指標：
1. 測量范圍：硅單晶材料電阻率10-1~104Ω.cm
2. 可測量材料：半導體硅棒和硅片，及硅碎顆粒。
可測半導體材料尺寸：Φ5~Φ150mm以上。
3. 顯示方式：P、N燈顯示。
4. 測試探頭：手持式探針間距3mm 探針Φ1mm高速鋼
5. 電源：220V 50HZ 20W
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