介紹了葉面積測定儀方法提高植物葉面積的精確測量CCD,分析了不同的圖像采集設備。影響儀器的測量精度的因素是用來消除線性幾何畸變方法的影響,討論了利用葉面積儀真的實現無損測量實際的應用程序。誤差分析及減小誤差的方法：用CCD葉面積測定儀植物葉面積的測量,圖像分割與主觀誤差是測量誤差的主要來源,引起系統誤差校準系統,成像系統的非線性幾何變等。
葉面積測定
介紹了葉面積測定儀方法提高植物葉面積的精確測量CCD,分析了不同的圖像采集設備。影響儀器的測量精度的因素是用來消除線性幾何畸變方法的影響,討論了利用葉面積儀真的實現無損測量實際的應用程序。誤差分析及減小誤差的方法：用CCD葉面積測定儀植物葉面積的測量,圖像分割與主觀誤差是測量誤差的主要來源,引起系統誤差校準系統,成像系統的非線性幾何變等。
葉面積測定儀的系統誤差主要是因為系統校準后必須獲得比,反過來,測量葉片的面積,所以校準系統中使用的標準對象區域人工測量精度將直接影響葉面積儀系統的精度校準,從而影響儀器的測量精度。這個錯誤將會出現在使用各種各樣的圖像采集設備,但是在使用葉面積測定儀將成為主要的誤差來源,由于非線性幾何變和線性幾何失真小，解決方案是使形狀的規則標準對象和葉面積測定儀準確測量區域盡快。
錯誤由于主觀的葉面積測定儀誤差是根據用戶的面積圖像分割閾值,因此必須將選擇不同的閾值的錯誤。這個錯誤將會出現在使用各種各樣的面積圖像采集設備,但面積消除更容易。葉面積測定儀測量方法是通過移動鼠標在狀態欄中的面積圖像觀察測量葉片面積，使人為標準對象和背景度值范圍,以便確定面積閾值范圍,并接近葉面積測定儀閾值的平均值。
產品詳情：http://www.agr17.com.cn/ 葉面積測定儀
