金東霖X射線熒光測金儀///膜厚測試儀設計為X-射線管和探測器系統位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優點，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數情況下，被測試工件的表面可直接放置于測量臺上，這就避免了在從上往下測量系統中需要的測量距離調整。測試點會自動地調整在正確的距離上。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差。- 美國博曼是*一家實現了這種設計的X-射線熒光鍍層厚度測試儀器的制造廠商。
美國博曼X射線鍍層測厚儀 薄膜測厚儀 X-RAY膜厚儀
美國博曼X-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行，只需數秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*。
十多年來，深圳金東霖科技一直服務于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機構、高校、質量檢測中心、半導體、微電子、光電子、光通訊等領域。我們提供高質量的產品和的服務都得到客戶zui高的獎勵，在未來,我們將繼續履行客戶的期望、要求和需要。
