X熒光光譜儀 X光管光譜檢測儀 專業貴金屬檢測儀 鍍層厚度檢測測量儀
型號： JC15-EDX600
X熒光光譜儀 X光管光譜檢測儀 專業貴金屬檢測儀 鍍層厚度檢測測量儀
型號： JC15-EDX600
X熒光光譜儀 X光管光譜檢測儀 專業貴金屬檢測儀 鍍層厚度檢測測量儀 儀器介紹
EDX600貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數盒探測器，以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。
性能特點
專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序。
X熒光光譜儀 X光管光譜檢測儀 專業貴金屬檢測儀 鍍層厚度檢測測量儀 技術指標
元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測量對象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達：1ppm。
分析含量一般為：1ppm到99.9％。
多次測量重復性可達：0.1％。
長期工作穩定性為：0.1％。
標準配置
單樣品腔。
正比計數盒探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
應用領域
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
