儀器特點：
同時分析測量多種元素（根據客戶要求配置從Na到U的任意多種元素）；
可檢測固體﹑液體﹑粉末，無需復雜的制樣過程；
采用*SI-PIN探測器，分析速度快；
精確度高，穩定性好，故障率低；
采用多層屏蔽保護，輻射安全性可靠；
基于WINDOWS XP/VISTA 中文應用軟件功能豐富，**的分析方法，各種圖表和趨勢圖為操作者提供直觀的支持，操作簡單，使用方便,分析結果可直接輸出到Excel，便于進行統計分析。
主要技術指標：
1.多功能置樣裝置
X熒光分析儀的置樣裝置具有可容納各種形態被測樣品的樣品室。
A．樣品種類：固體﹑液體﹑粉末。
B．樣品室的環境：可選擇空氣﹑真空。由軟件自動控制，無需人工操作。
2.X射線管激發系統
系統采用50KV的低功率正高壓X射線發生器作為激發源。由高電壓發生器，X射線發生器及控制顯示系統等部分構成。
A.高壓發生器：電壓與電流采用軟件自動控制及顯示。
電壓范圍：0V至50kV連續可調。
電流范圍：0mA至1mA連續可調。
B. X射線發生器：采用低功率﹑自然冷卻﹑高壽命的X光管，并根據實際應用需要選擇靶材。
3.進口的高分辨率SI-PIN探測器系統 SI-PIN電制冷高分辨率高計數率探測器。
4.系統軟件
A．操作： WINDOWS XP操作系統軟件，功能強大，使用方便。
B．功能：能譜顯示，分析元素設置，能量刻度，X光高壓、電流自動控制，自動真空控制。
C．分析方法：線性擬合，二次曲線，強度校正，含量校正，基本參數方法。
D．儀器的漂移自動修正：保證儀器的分析結果*穩定。
