全新XK-50M 研究級金相顯微鏡集公司多項于一身，從外觀到性能都緊跟設計風向，致力于拓展工業領域全新格局。50M 秉承西尼科不斷探索不斷超越的品牌設計理念，為客戶提供完善的工業檢測解決方案。
多檔分光比觀察頭設計
全新50M 系列觀察筒，采用寬光束成像系統設計，支持26.5mm 的超寬視野觀察，帶給您全新的大視野體驗。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒，保證樣品的移動方向與您通過目鏡觀察到的方向一致，使操作更加得心應手。
三檔式鉸鏈三目觀察筒，在成像光線99% 用于雙目觀察或三目攝影的基礎上，增加一檔20% 用于雙目觀察，80% 用于顯微攝影，方便用戶同時對鏡下圖像與視頻圖像進行對比觀察；
偏振系統
偏振系統包括起偏器和檢偏器，可做偏光檢測，在半導體和PCB 檢測中，可消除雜光，細節更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360 度旋轉式檢偏器。360°旋轉式檢偏器可在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態。可在偏振系統的基礎上加載舜宇全新研發微分干涉器，建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統。
諾曼爾斯基微分干涉襯比系統
全新研發的U-DICR 微分干涉組件，可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差，轉化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現出來，如LCD 導電粒子，精密磁盤表面劃痕等。
物鏡轉換器，多孔可選
多孔物鏡轉換器可以對同一個標本的觀測點進行連續的更加合理的低、中、高放大倍率觀察。全新的物鏡轉換器將光軸與轉動軸之間的夾角降低到15°，提高了對中精度和齊焦精度，且外觀更加緊湊。
尺寸圖：
