儀器使用：
1.開(kāi)機(jī)：
裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí)，儀器將自動(dòng)開(kāi)機(jī)。（使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí)，禁止接觸狀態(tài)下橫向滑動(dòng)探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測(cè)量后將儀器拿起，離開(kāi)被測(cè)物10cm以上，再進(jìn)行下次測(cè)量。）
2.設(shè)置：
開(kāi)機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單，QNix®4500為4個(gè)選項(xiàng)，QNix®4500為2個(gè)選項(xiàng)，見(jiàn)下圖：
“Fe”為磁性金屬基體模式，“NFe”為非磁性金屬基體模式（僅QNix®4500），“Fe/NFe”為自動(dòng)識(shí)別基體模式（僅QNix®4500），“取平均值”為儀器自動(dòng)顯示后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量）。
按紅鍵進(jìn)入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進(jìn)行選擇，將光標(biāo)在選項(xiàng)上停留2秒后，進(jìn)入所選項(xiàng)目。如在“Fe”選項(xiàng)上停留2秒后，儀器顯示如下：
這時(shí)儀器進(jìn)入Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500也可選擇NFe（非磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動(dòng)識(shí)別）模式下工作。進(jìn)入“取平均值”選項(xiàng)后，儀器顯示如下
在“開(kāi)”選項(xiàng)上停留2秒后，取平均值開(kāi)啟，測(cè)量時(shí)顯示數(shù)據(jù)為后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量），測(cè)量時(shí)在屏幕右上角出現(xiàn)“ X— ”符號(hào)時(shí)表示取平均值開(kāi)啟，如不需要請(qǐng)關(guān)閉（在取平均值選項(xiàng)里選擇“關(guān)”）即可。
3.測(cè)量：
（1）調(diào)零：
儀器在測(cè)量前，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面調(diào)零，因?yàn)椴牧现g導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同，會(huì)造成一定誤差。選擇相應(yīng)Fe或NFe模式后，將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開(kāi)，儀器依次顯示“零位參照、放置探頭”、“零位參照，拿起探頭”或聽(tīng)到儀器響聲后，拿起儀器，出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽(tīng)到響聲后，液晶顯示0，調(diào)零完畢。
注意：由于工件表面粗糙度等原因，調(diào)零后，再測(cè)時(shí)不一定是的零位，這是正常現(xiàn)象。
（2）測(cè)量
將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物的表面，儀器將自動(dòng)測(cè)出并顯示數(shù)據(jù)。（建議用拇指和食指拿住儀器凹槽處使用，分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）
注意：測(cè)量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面、并壓實(shí)，每測(cè)量一次后將儀器拿起，離開(kāi)被測(cè)物10㎝以上，再進(jìn)行下一點(diǎn)測(cè)量。
4.分體型說(shuō)明：
QNix®4200P、QNix®4200P5、QNix®4500P、QNix®4500P5采用有線(xiàn)分體型設(shè)計(jì)，測(cè)量方便、穩(wěn)定、準(zhǔn)確，探頭連接線(xiàn)堅(jiān)固耐用，還可滿(mǎn)足一些狹小空間的測(cè)量。探頭線(xiàn)和探頭可更換
四、維護(hù)和維修：
QNix®4200/4500測(cè)厚儀采用*的電子技術(shù),能滿(mǎn)足各種不同的測(cè)量要求。高精度的設(shè)備,堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。只要正確使用和維護(hù),它的壽命會(huì)很長(zhǎng)。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護(hù)性和便于挪動(dòng)的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測(cè)量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴露在強(qiáng)烈的陽(yáng)光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對(duì)大多數(shù)溶劑具有抵抗性,但不能保證很少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,只有探針保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),所以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長(zhǎng)期不被使用時(shí), 為避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時(shí),請(qǐng)不要自行修理,我們的維修部門(mén)隨時(shí)竭誠(chéng)為您服務(wù)。
產(chǎn)品從購(gòu)買(mǎi)之日起保修一年，紅寶石磨損及其他人為因素造成儀器損壞不予保修。
五、注意事項(xiàng)和常見(jiàn)問(wèn)題：
1.測(cè)量應(yīng)為點(diǎn)接觸，嚴(yán)禁將探頭置于被測(cè)物表面滑動(dòng)。
2.出現(xiàn)INFI時(shí)，有可能是由于測(cè)量基體選擇錯(cuò)誤造成的，請(qǐng)選擇測(cè)量基體Fe、NFe或自動(dòng)識(shí)別Fe/NFe，如未能解決，可能是因?yàn)闇y(cè)量不同材料零位差距過(guò)大造成，選擇正確測(cè)量基體重新調(diào)零即可。
3.因國(guó)家地區(qū)所用厚度單位不同，在中國(guó)銷(xiāo)售的Qnix4500/4200型使用的是μm，因此屏蔽了英制單位mil，有時(shí)因操作不當(dāng)激活mil單位，此時(shí)用戶(hù)只需復(fù)位即可，復(fù)位過(guò)程為先把電池取下，然后按住紅鍵裝上電池，復(fù)位完成后松開(kāi)紅鍵即可。
六、顯示說(shuō)明：
Fe：磁性基體模式
NFe：非磁性基體模式
INFI：基體選擇錯(cuò)誤或超出量程
