技術參數(shù): 重量: 1.6kg 尺寸: 30cm(L) x 10cm(W) x 28cm(H) 激發(fā)源: X射線管,Ag靶,40kV 檢測器: SI-PIN檢測器 操作系統(tǒng):HP掌上電腦:Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng):Peltier 半導體冷卻系統(tǒng) 電源: 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件:溫度:-20 ℃ ~ 55 ℃ 濕度:0~95%

手持式光譜儀設備維護與保養(yǎng):
1.手持式光譜儀使用過程中應輕拿輕放,防止內(nèi)部零件受損。
2.保持檢測口薄膜的清潔,檢測口薄膜被污染可能引起檢測誤差。檢測口薄膜破損繼續(xù)使用可能會造成手持式光譜儀的損壞。應及時清潔或更換。
3.被檢測物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機或金剛砂去除,以免造成測量結果不準確,被檢測物表面凹凸不平、有毛刺時應在檢測時注意,防止手持式光譜儀檢測口薄膜損壞。檢測鍍件時,要將電鍍層去除。
4.手持式光譜儀電池使用至10%時,應更換電池,充電。

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器,當能量高于原子內(nèi)層電子結合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,發(fā)生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知,只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

手持合金光譜儀可分析黑色金屬、有色金屬、合金的化學成分,能幫助客戶在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場應用領域中,進行合號鑒別、金屬成分分析,獲得準確、可靠的分析檢測結果。 現(xiàn)場無損檢測。擁有廣泛、可自定義牌號庫,保證合金鑒別。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有: (1)標樣和試樣中的含量和化學組成不相同時,可能引起基體線和分析線的強度改變,從而引入誤差。 (2)標樣和試樣的物理性能不相同時,激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結構不相同時,測出的數(shù)據(jù)會有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時,混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差,必須嚴格按照標準樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差,需要采用化學分析方法分析多次校對結果。