手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器,當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知,只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

技術參數: 重量: 1.6kg 尺寸: 30cm(L) x 10cm(W) x 28cm(H) 激發源: X射線管,Ag靶,40kV 檢測器: SI-PIN檢測器 操作系統:HP掌上電腦:Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統:Peltier 半導體冷卻系統 電源: 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件:溫度:-20 ℃ ~ 55 ℃ 濕度:0~95%

手持式光譜儀如何正確使用 手持式光譜儀在使用的時候,對環境有一定的要求。不要在潮濕的環境下工作,環境濕度0-95%之間為好;不能在高溫下操作工作。這樣,避免各類磁場的干擾,儀器分析的時候才能檢測出更高的精度。所以,大家在工作時候要注意環境適度,很多時候儀器檢測不標準跟環境有很大程度上的關系。 手持式光譜儀對于操作人員有一定要求。測試樣品前,一定要請儀器廠商人員現場演示,并且對技術人員做操作前的培訓。因為這款儀器是檢測元素,那么一定會要做放樣檢測,所以,技術人員還需要做好防。 對手持式光譜儀操作的技術人員,在使用儀器檢測樣品的時候,先要把儀器前方的圓孔對準需要檢測樣品的點,儀器要貼在上面,在扣動開始檢測的時候,技術人員的手一定不能抖動,否則會影響到檢測的數據結果。 對于檢測的樣品也有要求。被測的物品表面必須保持整潔,才能避免其他元素的干擾。被測物品的表面有油污,或重金屬污染,檢測出來的結果度沒那么高。 手持式光譜儀的操作看起來很復雜,只需按照技術人員的指示一步步操作,沒你想的那么復雜了。

手持式分析儀 探測器:13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發源:40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間:10-200秒(可手持式或座立式測試) 檢測對象:固體、液體、粉末 檢測范圍:硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素:多至26個元素 元素檢出限:0.001%~0.01% 校正方式: 銀(Ag) 性:自帶模式,非人員無法使用 Data使用性:可在PDA內進行編輯,可導入PC機進行 保存打印,配備海量存儲卡 電 源: 兩塊鋰電池滿電可連續工作8小時
手持式光譜儀系統誤差的來源有: (1)標樣和試樣中的含量和化學組成不相同時,可能引起基體線和分析線的強度改變,從而引入誤差。 (2)標樣和試樣的物理性能不相同時,激發的特征譜線會有差別從而產生系統誤差。 (3)澆注狀態的鋼樣與經過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態的鋼樣金屬組織結構不相同時,測出的數據會有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時,混入未知合金元素而引入系統誤差。 (5)要系統誤差,必須嚴格按照標準樣品制備規定要求。為了檢查系統誤差,需要采用化學分析方法分析多次校對結果。