OptiSurf® - 高精度低相干干涉儀，用于UV VIS和IR光學元件的中心厚度和空氣間隔
| OptiSurf® 是非接觸式測量單鏡頭、平面關系和光學系統中心厚度與空氣間隔比較理想的工具。該儀器基于低相干干涉儀測量原理，經一次掃描即可測量光學系統中所有的表面距離，精度高達0.15µm。特別是，與常規系統相比。OptiSurf®大大簡化了樣品對于測量軸的對準過程；頗具創新性的對準工具，可調的樣品支架以及簡便的軟件控制使無經驗的操作者也能夠精確的對準并進行測量。這種省時的創新使OptiSurf® 可用于生產中。 OptiSurf®是市場中可測量遠紅外鏡頭材料的設備。作為 OptiCentric® IR設備的更新， OptiCentric® IR 是紅外透鏡高精度組裝工藝的補充。 | |
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主要特征
*具有0.15µm的中心厚度與空氣間隔測量精度；
*可應用于紫外、可見與紅外光學；
*輕松輸入樣品數據；
*可通過OptiCentric®Zmeax或鏡頭設計編碼器中導入鏡頭設計對測量結果的統計分析；
*自動識別鏡頭表面，計算表面之間的距離；
*具有快速簡便的樣品對準軟件工具；
*采用非接觸式測量；
應用
| OptiSurf®低相干干涉儀能夠測量單透鏡（光學厚度達800mm）、光學系統與透鏡材料的中心厚度與空氣間隔。 | |
OptiSurf®軟件
基于低相干干涉原理測量。
OptiSurf®軟件可以分析光學系統的中心厚度和空氣間隔。
主要特征
| *支持直觀處理、準直與測量操作； *可通過OptiCentric®直接從Zemax或鏡頭設計編輯器中導入鏡頭設計； *自動識別表面，進行快速精確測量； *將設計數據與用于質量控制的偏差識別進行對比； *將測量結果進行統計分析、判斷是否通過； *具有兩個用戶界面級別：用于研發（復雜分析）或生產（操作處理）； | |
| OptiSurf® | OptiSurf®Ultra Precision | OptiSurf® IR** | |
| 測量精度 | 1 µm* | 0.15 µm* | 微米量級*** |
| 重復率 | 0.5 µm | < 0.75µm | 微米量級*** |
| 光源波長 | 1.3 µm,色散(MIN) | 1.3 µm,色散(MIN) | 2.2 µm,測量紅外材料 |
| 掃描范圍 | 可達800 mm；光學距離：依需求可更大 | 可達800 mm；光學距離，依需求可更大 | 依需求 |
| 溫度計氣壓傳感器 | 可升級 | 可升級 | 可升級 |
| 電腦接口 | USB | USB | USB |
| 基于相機的準直工具 | 可升級 | 配有 | 可升級 |
| 激光器級別 | 1 | （2 ） | 1 |
*依據 2σ100mm 光學平面空氣間隔的測量標準
**僅與OptiCentric組合式可用
***取決于樣品
供貨范圍
*通過軟件調焦的鏡頭；
*可見激光束，用來準直；
*電動線性滑臺；
*斜坡與轉換臺；
*OptiCentric® 軟件；
升級與配件
*用于快速方便的對準樣品的光學準直對準工具；
*集成在儀器底座匯總的測量頭（不需要與OptiCentric®組合使用）；
*依國際標準認證的OptiCentric®參考樣品；
