什么是潛在誘導(dǎo)退化(PID)測(cè)試?
PID測(cè)試是對(duì)制造的模塊進(jìn)行的質(zhì)量保證測(cè)試,以預(yù)測(cè)它們?cè)诓煌瑮l件下長(zhǎng)時(shí)間的性能。對(duì)于太陽能組件的PID測(cè)試,將組件置于85°C的溫度下,濕度約為85%,并在1000v負(fù)載下持續(xù)96小時(shí)。PID測(cè)試模擬組件暴露在的次電壓和溫度條件下的功率損耗。
如何進(jìn)行潛在誘導(dǎo)退化(PID)試驗(yàn)?
為了進(jìn)行測(cè)試,在兩個(gè)金屬電極之間放置了一組像模塊一樣的太陽能電池、聚合物箔和玻璃層堆棧。在加熱底部(接地)電極的同時(shí),在模塊的上部電極上施加高正電壓(電壓相當(dāng)于PID)。