產品簡介：

在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 擁有強大的技術水平。ICP-MS 最嚴重的限制是對元素信號的多原子干擾。高質量數分辨率是消除這些干擾的金標準，可在痕量水平上準確可靠地進行多元素定量分析，樣品制備步驟極為簡便。

產品特點：

? 多元素檢測器可處理瞬變信號，包括 HPLC、GC 和激光消融。

? 元素周期表中的無干擾測量涵蓋基質組分（mg?L-1）和超痕量元素（低于 1 pg?L-1）。

? 靈敏度 ICP-MS（低分辨率時）。

? 高質量數分辨率可獲取譜干擾同位素，生成清晰的元素譜

? 對無干擾或受干擾同位素進行高精度同位素比分析。

? 熱等離子體和冷等離子體狀態。

? 采樣時間低至 1 ms。

? 測量高強度峰后無需衰減時間

? SEM 和法拉第之間自動切換，延遲時間為 <1 ms。

? 不同檢測器模式之間的線性交叉范圍較寬（>2 個數量級），允許準確進行自動交叉校正。

? 動態范圍為 0.2 cps（SEM）到 >1 x 1012 cps（法拉第）。

產品簡介：

在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 擁有強大的技術水平。ICP-MS 最嚴重的限制是對元素信號的多原子干擾。高質量數分辨率是消除這些干擾的金標準，可在痕量水平上準確可靠地進行多元素定量分析，樣品制備步驟極為簡便。

產品特點：

? 多元素檢測器可處理瞬變信號，包括 HPLC、GC 和激光消融。

? 元素周期表中的無干擾測量涵蓋基質組分（mg?L-1）和超痕量元素（低于 1 pg?L-1）。

? 靈敏度 ICP-MS（低分辨率時）。

? 高質量數分辨率可獲取譜干擾同位素，生成清晰的元素譜

? 對無干擾或受干擾同位素進行高精度同位素比分析。

? 熱等離子體和冷等離子體狀態。

? 采樣時間低至 1 ms。

? 測量高強度峰后無需衰減時間

? SEM 和法拉第之間自動切換，延遲時間為 <1 ms。

? 不同檢測器模式之間的線性交叉范圍較寬（>2 個數量級），允許準確進行自動交叉校正。

? 動態范圍為 0.2 cps（SEM）到 >1 x 1012 cps（法拉第）。

產品簡介：

在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 擁有強大的技術水平。ICP-MS 最嚴重的限制是對元素信號的多原子干擾。高質量數分辨率是消除這些干擾的金標準，可在痕量水平上準確可靠地進行多元素定量分析，樣品制備步驟極為簡便。

產品特點：

? 多元素檢測器可處理瞬變信號，包括 HPLC、GC 和激光消融。

? 元素周期表中的無干擾測量涵蓋基質組分（mg?L-1）和超痕量元素（低于 1 pg?L-1）。

? 靈敏度 ICP-MS（低分辨率時）。

? 高質量數分辨率可獲取譜干擾同位素，生成清晰的元素譜

? 對無干擾或受干擾同位素進行高精度同位素比分析。

? 熱等離子體和冷等離子體狀態。

? 采樣時間低至 1 ms。

? 測量高強度峰后無需衰減時間

? SEM 和法拉第之間自動切換，延遲時間為 <1 ms。

? 不同檢測器模式之間的線性交叉范圍較寬（>2 個數量級），允許準確進行自動交叉校正。

? 動態范圍為 0.2 cps（SEM）到 >1 x 1012 cps（法拉第）。