PCM結晶監測系統
結晶監測系統(PCM)專為在線測量結晶工藝過程而設計。該系統結合了原位工藝過程顯微鏡與的圖像分析技術。PCM提供工藝過程的實時影像視圖和關于晶體特征的詳細分析數據,例如尺寸分布,形態和濃度。PCM的測試結果可以有效地幫助過程優化、過程控制和故障排查。使用PCM可以幫助提高過程產能,降低最終產品的質量波動。PCM具有靈活的安裝機制,它可安裝在從實驗室到規模生產階段的反應釜及結晶器多種設備中。這種技術可以被用于連續生產過程或批次生產過程。
PCM的基礎是實時影像,它為您提供有關工藝過程有價值的可視化信息。此外,t結晶監測系統(PCM)的圖像分析算法可以檢測圖像數據中的晶體和其它粒子,獲得過程結晶分布的實時統計結果并生成關于其特征以及其它懸浮體特性的詳細實時數字信息。
PCM測試結果
- 晶體尺寸分布和相關統計(平均值和標準偏差; D10,D50,D90等)
- 晶體生長速率
- 晶體長徑比
- 測試區域的晶體數量和成核速率
- 體系流動性
- 晶體尺寸累積分布(D10, D50, D90等)
- 微晶和粗晶百分比