產品描述 5120A數字化相位噪聲分析儀，不僅可測量相位噪聲同時可測量頻率穩定度，相位差，頻率差，還可以作為高精度頻率計使用. 全數字化測量的技術不僅使測量的速度大大縮短而且有效地提高了相位噪聲測試精度。不再像其他模擬相位噪聲測試儀需要搭建平臺，簡單易用的設備使測試成本得到降低。 主要特點 ● 同時測量相噪和阿倫方差 ● 1 - 30 MHz頻率范圍 ● 即時顯示測量結果: 無需外部數據處理 ● 的工業級精度(±1.0 dB) ● 實現不同頻率間的測量 ● 阿倫方差測量（超過300天） ● 相位噪聲測量接近載波處的0.1 mHz ● 無需測量校準，節省測試時間 ● 實時顯示測量結果 ● 供用戶選配：內部參考振蕩器 ● 性價比解決方案 ● 直觀的遠程網絡管理和數據獲取 ● 易于操作的圖形用戶界面 ● 相位噪聲測試低至-175 dBc/Hz 品質源于傳承 5120A是Microsemi（并購了Symmetricom公司）在NIST和民用產業超過20年的研究探索的智慧結晶。5120A多功能測試儀結合了業界標準級阿倫方差測試儀：5110A的優勢，具有業內水準的相位噪聲測量能力。 的準確度 由于5120A的數字相位偵測器，5120A 成為準的工業測量儀器。 NIST曾校準一臺5120A樣機，并證實其準度高達±1.0 dB，是業界準確度。5120A的阿倫方差測量也是工業級的： <3E-15@1秒。 超寬范圍的測量能力 5120A支持范圍的相位噪聲和阿倫方差測量，適用于任何商業上產品。步通過把DUT和參考源信號轉換數字信號，5120A采用的全數字化設計，測量時無需進行載波抑制，因此，能在最小頻偏下(<0.1 mHz)測量相位噪聲。 同時，這項技術使5120A能夠連續300天以上進行阿倫方差測量。這些技術上的優勢，讓客戶可以比以往更好地定性其高性能頻率源的水平。 的雜散檢測技術 5120A配備完善的運算法則，實時地檢測和標識雜波。通過匹配濾波器，用窗口函數的傅立葉轉換，比較雜散信號響應的波形，檢測雜波，并在顯示屏上用紅色標識，如上圖5120A相位噪聲顯示屏截圖。值得信賴的專業雜散檢測技術，讓你更加快捷、方便地進行測量。 操作簡便 Microsemi（并購了Symmetricom公司） 結合廣泛的相噪和阿倫方差測量的專業知識，創造了一機式解決方案，具有直觀、簡單明了的GUI。5120A自身即可完成配置及校準功能，因此無需專業技師觀察檢測，也能非常精確地完成測量任務，節省人力資源。如上圖所示5120A-01的電路連線，將DUT信號連接至“Input”端口，之后按下綠色“Start”鍵，5120A將自動啟動測量工作。 參考源和被測設備無需同一頻點 相較傳統測量系統，5120A不要求參考源的頻率必須與DUT頻率相同，要實現這項優勢，5120A需合成兩個輸入頻率轉換成帶寬。 5120A的相位探測器擁有無限的帶寬范圍，無需鎖相兩個輸入。這意味著，只要有一個低噪參考源，就能實現任何被測頻率下的精密測量。   | 高精度，高性價比的即時測量 5120A——全數字化、高性能相噪與阿倫方差分析儀，實現精確的相位噪聲和阿倫方差測量功能的同時，簡化操作并節約成本。傳統模擬分析儀器需要外部鎖相環，致使此類測量儀器復雜、昂貴。相比傳統儀器，創新的5120A相位噪聲儀只要點擊一下按鈕，就能快速、準確地測量SSB相位噪聲和阿倫方差。 全數字化的5120A簡化了復雜的操作配置和校準步驟：用戶只需直接連接被測器件(DUT)和參考信號,不要求參考源頻率必須與DUT同頻，再按下5120A的綠色“Start”鍵，高分辨率屏上就會顯示精準的測量數據。 5120A是Microsemi（并購了Symmetricom公司）融合了業界標準阿倫方差測量設備：5110A，所開發的新一代產品。除了優異的阿倫方差測量能力， 5120A還提供相位噪聲測量，其精度達到±1.0 dB（以前不可能達到的級別）。結合準確的相位噪聲和阿倫方差測量底噪，5120A能更精準地測量相噪。 Microsemi（并購了Symmetricom公司）精通于相位噪聲、阿倫方差測量技術，善于應用高速低噪聲模數轉換技術的優點，從而結合多種測量工具，集成為單機解決方案。使5120A 在進行更精準的測量同時，仍可維持較低的成本。 用戶可根據需要添加5120A內部基準振蕩器，這單機解決方案（即5120A-01）節省尋找和校準外部參考源的時間，只要連接DUT至5120A-01，即可開始精確的測量。 5120A取代過去的復雜，昂貴的測量儀器，讓測量變得更加快捷、簡便、精準、經濟。 多種輸出選擇 5120A滿足打印或進一步的數據分析的應用需求。5120A只需連接兼容PostScript語言的打印機，設定好打印機，然后按下5120A上的‘Print’按鈕，就能直接打印5120A的測量數據。 還可以通過以太網連接口輸出測量數據到遠程計算機，這些數據可導入Stable32等行業標準軟件進行頻率穩定性分析。 無外部參考源的精密測量 有了可選配的高性能內部參考振蕩器，5120A讓相位噪聲測量變得更加容易， 該設備采用抵消兩個內部振蕩器通道間互相關噪聲的方法，使其能在兩個通道底噪下進行有效地測量。5120A-01可實現低至-168 dBc/Hz的精密測量，與具有相同性能參數并有外部參考振蕩器的相噪測試儀相比，成本大幅降低。不再需要花費大量的時間去尋找、校準外部參考源，現在即可依賴于5120A-01。 全數字測試裝置的優勢 5120A是結合定時技術，并采用Microsemi（并購了Symmetricom公司）公司相位測量算法的測量設備。如上圖所示（5120A 結構框圖），待測源和參考源信號進入5120A，立即被模數轉換電路轉換成數字信號，這使5120A在無外部鎖相環的情況下，仍能進行精準的測量，無需校準測量。另外，全數字化設備5120A不要求參考源頻率必須和DUT同頻。 交叉相關技術 5120A 結構框圖中并行的上行和下行通路，說明了該設備的互相關技術。在并行同步測量之后，5120A相交互兩通路離散傅立葉變換，以評估輸入設備的噪聲，同時抑制兩個測量子系統的獨立噪聲。從而實現最終測量結果比單通道設備更加接入底噪，更加精準。 技術指標
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