半導體測試儀器產品介紹
產品為桌面放置的臺式機結構，由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能 夠通過 Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）連接分選機和機械手建立工作站，實現快速批量化測 試。通過軟件設置可依照被測器件的參數等級進行自動分類存放。能夠應對“來料檢驗”“失效分 析”“選型配對”“量產測試”等不同場景。
產品的可靠性和測試數據的重復性以及測試效率都有著非常優(yōu)秀的表現。創(chuàng)新的“點控式夾具”讓操 作人員在夾具上實現一點即測。操作更簡單效率更高。測試數據可保存為 EXCEL 文本。
半導體測試儀器應用場景
? 測試分析（功率器件研發(fā)設計階段的初始測試）
? 失效分析（對失效器件進行測試分析，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提 出改善方案）
? 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
? 來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
? 量產測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規(guī)模化、自動化測試）
產品特點
(1) 可測試 7 大類 26 分類的各類電子元器件；
(2) PC 機為系統(tǒng)的主控機；
(3) 基于 Lab VIEW 平臺開發(fā)的填充式菜單軟件界面；
(4) 自動識別器件極性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC，100K/S 采樣速率；
(6) 程控高壓源 10~1400V，提供 2KV 選配；
(7) 程控高流源 1uA~40A，提供 100A,300A,500A 選配；
(8) 驅動電壓 10mV~40V；
(9) 控制極電流 10uA~10mA；
(10) 四線開爾文連接保證加載測量的準確；
(11) 通過 RS232 接口連接校準數字表，對系統(tǒng)進行校驗；
(12) Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）
(13) 可為用戶提供豐富的測試適配器
(14) 連接分選機測試量為每小時 1 萬個
(15) 可以測試結電容，諸如 Cka，Ciss，Crss，Coss；
(16) 脈沖電流自動加熱功能，方便高溫測試，無需外掛升溫裝置；
產品信息及規(guī)格
產品型號：HUSTEC-DC-2010
產品名稱：半導體分立器件靜態(tài)參數測試儀系統(tǒng)
主機尺寸：長660*寬430*高210(mm)
主機重量：＜35kg
主機功耗：＜300W
海拔高度：海拔不超過 4000m；
環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；
相對濕度：20%RH～75%RH (無凝露，濕球溫度計溫度 45℃以下)；
大氣壓力：86Kpa～106Kpa；
防護條件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導電粉塵等；
電網要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作時間：連續(xù)；
測試范圍
01. Diode / 二極管（穩(wěn)壓、瞬態(tài)、三端肖特基、TVS、整流橋、三相整流橋）
02. BJT / 三極管
03. Mosfet & JFET / 場效應管
04. SCR / 可控硅（單向/雙向）
05. IGBT / 絕緣柵雙極大功率晶體管
06. OC / 光耦
07. Relay / 繼電器
08. Darlington tube / 達林頓陣列
09. Current sensor/電流傳感器
10. 基準IC(TL431)
11. 電壓復位IC
12. 穩(wěn)壓器（三端/四端）
13. 三端開關功率驅動器
14. 七端半橋驅動器
15. 高邊功率開關
16. 電壓保護器（單組/雙組）
17. 開關穩(wěn)壓集成器
18. 壓敏電阻
19.電壓監(jiān)控器
應用場景
1、測試分析（功率器件研發(fā)設計階段的初始測試，主要功能為曲線追蹤儀）
2、失效分析（對失效器件進行測試分析，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案）
3、選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
4、來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
5、量產測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規(guī)模化、自動化測試）
6、替代進口（可替代同級別進口產品）
