臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。
我們以“更高畫質、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發出TM4000系列。在此基礎上，我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。 為您提供全新的觀察和分析應用。
臺式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡（SEM）在生物技術和材料等領域得到廣泛應用。該系列由日立于2005年4月開始銷售，可放在辦公桌上，設計緊湊，比普通SEM更受廣大用戶歡迎。它不僅應用于研究機構，而且還越來越廣泛地應用于工業領域，成為制造業品質管理的利器。
"TM4000 II"和"TM4000Plus II" 可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成Microsoft®Word®、Excel®、PowerPoint®格式的報告。此外，選配項還可實現更多功能。
TM4000 II/TM4000Plus II 具有以下三大特點：
標配低空模式，簡化樣品前處理
采用低真空，不導電樣品也無需噴金，可以直接觀察，大大提高了工作效率。全自動聚焦和亮度對比度調整，只需按幾個按鈕就可以拍攝圖片，簡單快捷。可根據不同樣品設置不同的觀察條件
樣品倉內的真空度及加速電壓有多種選擇，可根據需求自行設置。簡化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認等一系列操作過程（選配）
在樣品倉上可選配光學相機，樣品開始觀察前先拍攝樣品的整體照片，雙擊照片上的樣品，即可實現照片導航功能。
另外，“TM4000 II”和“TM4000Plus II”可根據不同觀測目的，選擇5KV、10KV、15KV、20KV四種不同的觀測模式，獲取圖像。其中5kV適合觀察樣品表面形狀，10KV適合常規樣品觀察，15kV適合高倍率觀察，20KV適合元素成分分析。每個電壓下都有四擋束流可調，可以針對不同的觀察需求選擇。
觀察圖像3分鐘。可迅速獲得所需數據，并制作報告。
觀察與分析的靈活性
自動獲取各類數據。快速切換！
可快速獲得元素分布圖 *2
*1TM4000PlusⅡ的功能。
*2選配
使用Camera Navi*的話，就是如此簡單
Camera Navi圖像讓您輕松找到視野，分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察
*選配：Camera Navi系統
操作簡單且快捷
觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像，并導出測試報告。.
Report Creator可讓您輕松制作報告
只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告
即便是絕緣物樣品，也無需預處理，就可直接進行觀察。
“荷電減輕模式”可抑制荷電現象
對于容易產生荷電的樣品，可使用“荷電減輕模式”，在抑制荷電的狀態下進行觀察。
只需用鼠標在軟件上點擊即可切換到“荷電減輕模式”。
可在低真空的條件下進行多種觀察
對于容易產生荷電的粉末或含水等樣品，可結合其目的進行觀察。
可在低真空的條件下進行二次電子像（表面形狀）觀察。
無需預處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面
不僅是觀察傳統的導電性樣品，還可以在無預處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品。可快速進行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
高感度低真空二次電子檢測器
采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外，通過控制該檢測器，來檢測電子照射所產生的光，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）。
可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析（選配），可進行更高計數率解析。
通過加速電壓20 kV，實現EDS元素分布圖的高S/N化
Multi Zigzag（選配）
可實現在廣域范圍內進行SEM觀察。
搭配自動馬達臺，可實現低倍率，高精度，大范圍的觀察分析。
非常簡單的 EDX 分析
面分析
譜峰分析
線分析
EM 樣品臺（選配）
可輕松觀察 STEM 圖像
與全新開發的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用，可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。
*UVD為 TM4000Plus II上的配件。
樣品：研磨劑
加速電壓：20 kV
觀察信號：(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像
放大倍率：10000 倍
樣品：老鼠腎臟
加速電壓：15 kV
觀察信號： STEM 圖像
放大倍率：1000倍
樣品：老鼠肝臟
加速電壓：15 kV
觀察信號： STEM 圖像
倍率：5000倍
