Langer干擾發射探頭套組P603/P750介紹：
使用探針組進行的測量保證了重復測量時的高精度和測量的可比性。Langer EMV Technik的ICE1 IC測試環境用于啟動測試IC。可以使用ChipScan ESA軟件進行測量。所有測量引腳的測量結果都保存在軟件中，可以快速、系統地進行比較。
Langer干擾發射探頭套組（IC測試系統）
品牌：Langer EMV-Technik
型號：P603/P750
基于IEC61967-4標準的傳導發射測量
Langer干擾發射探頭套組P603/P750介紹：
使用探針組進行的測量保證了重復測量時的高精度和測量的可比性。
Langer EMV Technik的ICE1 IC測試環境用于啟動測試IC。可以使用ChipScan ESA軟件進行測量。所有測量引腳的測量結果都保存在軟件中，可以快速、系統地進行比較。
Langer干擾發射探頭套組P603/P750配置:
1x P603, 1Ω高頻電流表
1x P750, 150Ω高頻電壓表
1x CS-ESA, ESA芯片掃描軟件
1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 測量電纜
1x P603 / P750 case, System case
1x P603 / P750 m
簡短的介紹：
P603是1Ω探頭，用于直接測量集成電路引腳上的高頻電流。測量時，把它接到電源引腳（Vdd/Vss）或信號引腳上。1Ω高頻電流表擁有針腳觸點，借此可以接觸到并對單個的引腳并進行測量。
P750 150Ω高頻電壓表：P750 高頻電壓表帶有150Ω的耦合電路，它根據IEC 61967-4測量集成電路引腳的高頻電壓。P750探頭具備高阻抗的電容耦合輸入，因此能夠測量受測物上不同引腳的射頻電壓。
CS-ESA：ESA芯片掃描軟件用于遙控頻譜分析儀，存儲并記錄測量曲線。這些曲線可以任意的相互或者與校正曲線、與頻率相關的曲線和曲線常數換算。
