概述
SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。
產品特點
采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm)；
高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現Psi/Delta光譜數據高速采集；
支持系列配置靈活，可根據不同應用場景支持多功能模塊化定制；
數百種材料數據庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；
產品應用
廣泛應用于鍍膜工藝控制、tooling校正等測量應用,實現光學薄膜、納米結構的光學常數和幾何特征尺寸快速的表征分析。
建議配件
| | | | |
| 溫控臺 | Mapping擴展模塊 | 真空泵 | 透射吸附組件 |
| 產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 分光橢偏儀SEMILAB在線光譜橢偏儀SE-3000 | ￥39000 | 重慶市 | 重慶津澤機電科技有限公司 | 2023-03-27 | 在線詢價 |
| 全光譜橢偏儀SE950 | 面議 | 深圳市 | 深圳市上德機電有限公司 | 2025-04-09 | 在線詢價 |
| JBG2021-W36自動橢偏儀 | 面議 | 上海 | 上海中晨數字技術設備有限公司 | 2025-01-28 | 在線詢價 |
| JBG2021-W72自動橢偏儀 | 面議 | 上海 | 上海中晨數字技術設備有限公司 | 2025-01-28 | 在線詢價 |
| JBG2021-W6自動橢偏儀 | 面議 | 上海 | 上海中晨數字技術設備有限公司 | 2025-01-28 | 在線詢價 |
| AutoSE-一鍵式全自動快速橢偏儀 | 面議 | 上海 | 翌穎科技（上海）有限公司 | 2024-09-24 | 在線詢價 |
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