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BW-3010A 晶體管光耦參數測試儀

參考價
16000-20000/件
具體成交價以合同協議為準
  • 型號BW-3010A
  • 品牌
  • 所在地西安市
  • 更新時間2024-01-22
  • 廠商性質生產廠家
  • 所在地區西安市
  • 實名認證已認證
  • 產品數量19
  • 人氣值709
產品標簽

晶體管光耦測試

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陜西博微電通科技有限責任公司位于古都西安灃東新城能源金貿區,我公司是一家致力于高精度半導體測試設備、電力電子檢測設備、半導體實驗室系統及電力儲能解決方案的集研發、生產、銷售的高科技企業。

公司主營產品有:半導體分立器件測試系統、光藕測試儀器、IC測試儀、半導體熱特性測試系統及電池安全管理系統等,

針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半導體測試產品,廣泛應用于半導體企業測試計量、封裝測試、IDM測試、晶圓測試、DBC測試以及科研教學、智能電力、軌道交通、新能源汽車、白色家電等元器件應用端產業鏈的來料檢驗、器件選型及工業院所、實驗室的數據驗證分析和研發指導等。

半導體測試設備可針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進行高精度靜態參數測試(包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數)測試精度可達16位ADC;動態雙脈沖(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等;環境老化測試(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命IOL/功率循環PCT3000 )及熱特性測試(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半導體器件測試設備/雪崩耐量測試UIS、二極管浪涌測試IFSM、熱阻測試、晶閘管直流參數測試SCR、安全工作區正偏/反偏/短路安全工作區測試SOA,各類型探針臺、高精度高低溫箱及分立器件分選機系統等

該系列產品廣泛應用于半導體生產及應用企業(設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板)和下游產業(院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等元器件的應用端產業鏈)的來料檢驗、器件分選、參數分析;廣泛應用于半導體實驗室、研究所、高校等研發部參數對比、器件選型、驗證分析、研發數據指導等。
      公司具備完整的電子產品生產線和質量控制體系,擁有一批高素質的技術研發人員和優秀的管理團隊,專注于半導體測試領域的技術創新和研發持續升級。公司注重產品
質量,更注重售后服務和客戶滿意度,我們秉承“博厚共贏、服務入微”理念竭誠為每一位客戶提供性價比高、高品質的產品與服務,解決客戶半導體測試痛點,助力行業發展。








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產地國產 加工定制
BW-3010A型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數測試及參數”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試,BW-3010A為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。
晶體管光耦參數測試儀 產品詳情

BW-3010A

光藕參數測試儀


品牌: 博微電通

名稱:晶體管光耦參數測試儀

型號: BW-3010A

用途: BW-3010A型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數測試及參數”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。

                                                                  BW-3010A產品介紹:

BW-3010A型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數測試及參數”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試,BW-3010A為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數的設定,測試條件及數據同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設置,測試正向壓降和輸出電流可達1A,操作簡便,實用性強。廣泛應用與半導體電子行業、新能源行業、封裝測試、家電行業、科研教育等領域來料檢驗、產品選型等重要檢測設備之一。

產品電氣參數:

產品信息

產品型號:BW-3022A

產品名稱:晶體管光耦參數測試儀

物理規格

主機尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)

主機重量:<4.5Kg

主機顏色:白色系

電氣環境

主機功耗:<75W

環境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

相對濕度:≯85%;

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等;

電網要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

      工作時間:連續;



服務領域:

image.png

應用場景:

    ?選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)

    ?檢驗篩選(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

產品特點:

    ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

    ?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數.

    ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

    ?內置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

    ?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達1500V

    ?重復”回路”式測試解決了元件發熱和間歇的問題;

    ?軟件自校準功能;

    ?自動測試測DUT短路、開路或誤接現象,如果發現,就立即停止測試;

    ?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型,顯示測試結果是否合格,并有聲光提示;

    ?兩種工作模式:手動、自動測試模式。

         BW-3010B主機和DUT的管腳對應關系

型號類型

P1

 T1

P2

 T2

P3

T3

P4

T4

光藕PC817

A

A測試端

K

K測試端

E

E測試端

C

C測試端

     

                                     BW-3010A測試技術指標:

1、 耐壓(VCEO)測試指標

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1400V

1V

<2%+2RD

0-2mA

2、輸入正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA

3、反向漏電流(ICEO)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

BVCE=25V

4、電流傳輸比(CTR)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-9999

1%

1% +5RD

BVCE0-20V

IF:0-100MA

5、輸出導通壓降(VCE(sat))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC0-1.000A

IF:0-1.000A

6、極性識別方式:自動極性轉向測試   (自動識別方向)

7、 可分檔位總數:10

              BW-3010A測試定義與規范:


AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.

Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.

Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.

CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。

CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。

Vsat:IF:表示測試光耦輸出導通壓降時輸入端的測試電流。

Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導通壓降時輸出端的測試電流。

                                 

                                   





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