SCE(IR)-MC-C5模塊化光學傳感器特點：

• 較大的層厚度測量范圍；

• 拋光的和粗糙的表面；

• 透明的和不透明的材料；

• 從單面進行測量；

• 在線和離線；

• 較高的橫向分辨率；

• 距離測量（可選）；

• 簡單集成；

• 無損傷測量；

• 堅固耐用；

• 自動光量控制；

• 較大的測量間距公差范圍；

SCE(IR)-MC-C5模塊化光學傳感器應用領域：

SCE系列傳感器利用多種*的技術來實現快速距離和厚度測量。 傳感器采用的光譜共焦(Chromatic confocal)和光干涉 (Interferometric)原理使其可以對幾乎任何表面做測量,另外不同種類的白光和紅外光源方便了傳感器測量多種材料。在光伏設備、玻璃行業、半導體行業、醫學、塑料盒坐標測量技術上得到了的廣泛的應用和認可。

SCE(IR)-MC-C5模塊化光學傳感器技術規格：

SCE(IR)-MC-C5模塊化光學傳感器測量原理：

白光光源①發出白光，經過光纖分路器③進入光纖傳導，再通過針孔④白光到達色散物鏡⑤，在被測物一側產生色散，由于波長不同，只有焦點在被測表面上的光才能被反射透過針孔④， 進入針孔④后方的光譜分析儀②。焦點在被測表面上的光波長在光譜分析儀中體現為峰值，由光譜儀的光譜分布可以判斷被測物體的高度。