一種更佳的光譜儀理念
同步吸收- 熒光光譜儀
UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍250 nm-1100 nm
一秒內獲取三維熒光全譜
超高熒光靈敏度，水拉曼RMS 6000:1
自動校準主次內濾效應
的A-TEEM TM 指紋熒光技術，高保真識別分子指紋
CCD 檢測器實現毫秒內完成整個熒光光譜采集
一臺光譜儀同時完成熒光和吸收光譜的采集!
Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR 光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時進行內濾效應校正。
瞬間獲得熒光光譜
Duetta 標配超快*的CCD 技術，讓它在采集速度的數倍, Duetta 標配超快*的CCD 技術，讓它在采集速度的數倍優于任何使用PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是一款能在100 毫秒內獲得250nm-1100nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一的CCD 技術也將近紅外檢測光譜范圍擴展到1100 nm，遠超過標準PMT 熒光儀的光譜范圍。
高靈敏度
經過優化設計的Duetta，擁有高水平的靈敏度，意味著可測更低濃度的樣品，并提供更準確的數據。
EzSpec™ 觸屏操作軟件
Duetta 使用HORIBA 新一代EzSpec 軟件，使熒光光譜儀從此進入了智能觸屏時代，生動立體的人機互動，用戶體驗感；升級常規分析用軟件模塊，可具有定制化、個性化分析測試。
