xSORT手持式X熒光光譜儀
斯派克公司在實驗室X熒光光譜儀方面，在此基礎上又開發出了堅固輕便的手持式SPECTRO xSORT熒光光譜儀，用于現場金屬材料的分析和分選。儀器采用高效的激發源和檢測器，實現了高精度，快速，安全的現場金屬分析。把實驗室級別的分析結果和輕松方便的操作方式*地結合在一起。SPECTRO xSORT 可在2 秒鐘內分析出從元素周期表Mg 到 Th 的多達41種元素，如要分選鋁合金和鎂合金則也只需要10秒。無須氦氣沖洗或真空系統即可分析Al，Mg，Si和P元素。SPECTRO xSORT 配有可充電電池和保護套。儀器不用時可放在隨儀器提供的皮套內，并可背在身上。
xSORT手持式X熒光光譜儀技術原理
試樣中被測元素的原子受到來自于X射線管的一次X射線激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定能量的X 射線二次熒光，利用高性能（能量分辨率<160eV）的X 射線硅漂移SDD檢測器探測試樣中被測元素所發出的各種能量的特征X 射線，根據檢測器輸出信號的能量高低（波長）和強度來對被測元素進行定性和定量分析。
現場及工作條件
操作環境溫度：0 ~ +45 °C; 41 ~ 104 °F
工作濕度：80% max.
防護級別：IP 52
原理及特點
? 可在大氣中現場快速無損的（2秒顯示牌號和實驗室級的分析結果）分析檢測并鑒別出各種不銹鋼，低合金鋼，有色合金，金屬等材質中的常量和微量元素含量，檢出限可達幾個ppm, 并可根據用戶需要進行擴展，以滿足粉末，礦石，土壤等不同樣品更多的分析測試要求，測量元素可達41種。
? 設備體積小，重量輕，分析精度高，一體化程度高，可靠性，集多種應用于一體，特別適用于高精度材料成分快速檢測。
? 配有*的Peltier電制冷硅漂移SDD（Sillicon Draft detector）計數器, 數據處理能力10倍于Si-PIN二極管檢測器，可有效防止計數溢出造成的漏計。SDD技術顯著減少分析所占用的X射線開啟時間，在同樣的儀器使用條件下可以測試更多的樣品，有效提升工作效率。
? 采用復合濾光片 (多金屬復合材料) 設計, 顯著減少了由于更換濾波片造成的分析時間的浪費（ 高縮短5倍時間），采用不同的激發條件保證對元素周期表中Mg – Th 的所有元素均有理想的激發效果，減少了操作時間，大幅度降低X射線對操作人員造成傷害的可能性, 是真正意義上的安全的快速無損現場檢測設備。
? 配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序。可對任何未知的樣品進行‘解剖’分析。與其他同類儀器相比，FP更為接近(符合)實際，在此程序中采用了數千種標準樣品，實測結果并予以固化。
? 采用人機功效學原理，一體化的ePC可以完成諸如：儀器控制，測試操作，自動識別，背底扣減，譜峰重疊，堆砌峰/逃逸峰校正，定量計算等操作功能。儀器采用分級密碼，重要的數據得到保護。標準USB接口更方便數據傳出。
? 具備Interlock安全互鎖和硬體快門。如未檢測到測試樣品，快門互鎖裝置會于200毫秒內自動關閉快門并同時切斷X射線，連鎖保護功能 大程度保護操作人員的人身安全；快門即為目前所有品牌中*內置的ICAL自校準樣品，自動校準儀器，自動修正偏差，無需外置自校準標樣，保證分析結果的準確性。
? 儀器在Windows CE操作系統上建立斯派克的分析軟件，操作極為方便。采用人機功效學原理，譜圖匯編，自動識別，背底扣減，譜峰重疊，堆砌峰/逃逸峰校正。定性、定量功能強大。儀器采用分級密碼，重要的數據得到保護。
? 儀器具有多種校正模式(數學模型)(方法)，在定量分析中可充分應用，以取得 佳的分析結果。方法包括: 基本參數法、盧卡斯經驗系數法、質量吸收系數法、基體匹配校正等等。
? 斯派克*的合金分析程序與ROHS分析程序同時安裝于同一臺X-SORT分析儀中
SPECTRO xSORT適用范圍
? 金屬材料分析，2秒顯示合號和元素含量
? 金屬材料分析，分析鎂，鋁，硅，磷和硫只需要增加額外的10秒，同時顯示合號和元素含量
? 快速完成材料鑒別：是/不是
? 30秒內完成土壤或者環保類樣品測試
? 根據相關條例指令測試，可在30秒內對包含塑膠，礦石（尾礦）等在內的材料進行成分析在標準配置中，具有如下特點：(儀器主機必須與分析程序同時預訂才能工作)
? 儀器使用XRF ANALYZER軟件進行儀器控制和數據處理
? 儀器快門同時是ICAL標準樣品，利用硬體快門對儀器自動校準，使儀器始終保持 佳狀態。無須另外的標準樣品或操作。
? 一體化控制計算機
? 雙電池包，每個電池提供超過4個小時的連續操作時間
? 標準USB接口可用于數據傳輸或者和其他外部設備連接
? 儀器可通過藍牙技術無線連接具有藍牙功能的打印機或者傳輸數據
? 儀器背包和電池套
? 無須任何工具即可更換小樣品適配器，安全罩和保護箔膜
? 儀器主機，電池，充電器，保護罩和消耗品都放在一個便攜箱內
? CCD攝像功能可用于定位測試點，測試位置的圖像可以和測試結果一起測試(可選件)
? 電池充電器也可作為變壓器使儀器用外接交流電工作
? 樣品測試倉（可連接外接電腦變為臺式XRF分析儀）(可選件)
技術指標
主要由以下幾部分組成：
? X光管高壓發生器
? X光管保護及空冷機構
? 樣品快門
? 高性能可充電鋰聚合物電池(二塊)
? 能量色散檢測器系統（具有前置放大的硅漂移檢測器）
? 邏輯分析電路
? 4096通道多通道能量分析器
? 控制儀器及數據處理用一體式計算機
? 儀器的測量、控制及數據處理軟件（WINDOWS 操作系統）
? 自動定量及定性分析（基本參數法和經驗系數法）
? 儀器說明及操作手冊
? 部件說明
檢測器
? SDD 硅漂移半導體檢測器
? Mn-K?能量分辨率：半峰寬<160eV
? 輸入計數率 大至250kcps
激發源
? X射線管
? 銠靶
? 大50kV
? 大125微安
快門安全連鎖機構
打開快門前，自動檢測是否有X射線泄漏，如未檢測到樣品，快門將于200毫秒的時間內自動關閉，關閉快門的同時儀器自動切斷X射線。
自動快門
具有硬體快門，快門關閉狀態下將射線源與外界物理上進行隔離.
尺寸和重量
? 高: 270 mm
? 寬: 93 mm
? 深: 230 mm
? 重量：儀器1.264Kg，電池：380克
電源
? 可充電鋰聚合物電池操作
? >4小時連續工作
? 分析時11W，待機時6W
? 100 - 240 V, +/- 10%, 50 / 60 Hz 變壓器/充電器
儀器控制嵌入式電腦主要技術參數
? Marvell PXA310 處理器 624Mhz主頻
? 內存: RAM 64M，ROM 256M
? 容量: 4G
? 3.5英寸TFT 320 x 240、65K 色彩、16 位
? 操作系統: WINDOWS
標準配置分析程序
為適應于客戶多種應用需要SPECTRO已將各種程序預制在儀器中：
金屬軟件包：分析元素包括：Mg，Al，Si，P，S，Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, I, Ba, W, Au, Hg, Pb, Bi, Th.（分析鎂，鋁，硅，磷和硫需要增加配置）
超過400個金屬標準牌號數據庫，并可根據客戶需要自由添加擴展。
