簡介
Leica EM RES102 通過離子槍激發獲得離子束，以一定入射角度對樣品進行轟擊，以去除樣品表面原子，從而實現對樣品的離子束加工。Leica EM RES102主要功能為：對無機薄片樣品進行離子減薄，使得薄片樣品可被透射電子穿過，從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察；對無機塊狀樣品進行離子束拋光、離子束刻蝕，樣品表面離子清洗及斜坡切割，便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品內部結構信息。
主要技術優勢：
操作簡便
● 19“觸摸屏電腦控制單元，監控并記錄制樣過程
● 內置應用參數庫
● 程序化制樣參數設定，加速初學者學習曲線
● 幫助文件幫助初學者以及對設備進行維護
高效/節約成本
● TEM，SEM和LM應用功能集于一體
● TEM樣品制備獲得的薄區大，有效提高了TEM樣品制備效率
● SEM樣品制備可達25mm樣品直徑
● 預抽室系統幫助快速交換樣品，減少等待時間，并保證了樣品室的持續高真空
● 局域網功能方便遠程操控
● LN2樣品臺使得溫度敏感型樣品可在優化條件下進行離子研磨
安全
● 精確的自動終止功能，適用于光學終止或透明樣品的法拉第杯終止
● 在制樣過程中可以時時存儲活圖像或視頻
● 離子源和樣品運動馬達驅動，程序化控制，因而可獲得重復性制樣結果
主要技術參數：
● 具有2把離子槍，離子束能量為0.8keV-10keV，相對位置，可分別±45°傾斜，樣品臺傾斜角度-120°至 210°，離子束加工角度0°至90°，樣品平面擺動角度<360°，垂直擺動距離±5mm。實際操作參數根據具體應用需要選擇（系統備有參考參數，也可自行設置參數并存儲）
● 可選配樣品臺：TEM樣品臺（φ3.0mm或φ2.3mm），FIB樣品清洗臺，SEM樣品臺，斜坡切割樣品臺（對樣品35°或90°斜坡切割）等
● SEM樣品臺可容納樣品尺寸：直徑25mm，高度12mm
● 全無油真空系統，樣品室帶有預抽室，保證樣品交換時間<1分鐘
● 全電腦控制，觸摸屏操作界面，內置視頻觀察系統，可實時觀察樣品處理過程
