奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統：讓您的技術清潔度檢測更簡便

組件與零部件的清潔對于生產工藝十分重要。對于開發、制造、批量生產以及成品質量控制的所有流程，滿足對常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計數、分析和分類的高標準要求是非常重要的。由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響，和國家指令對于確定重要機械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。此前，使用殘留顆粒物的質量來描述殘留物特征。當前使用的標準對諸如顆粒物數量、顆粒物尺寸分布以及顆粒物特征等污染屬性提出了更詳細的信息要求。  
奧林巴斯CIX100系統為滿足現代工業及國家和標準的清潔度要求而特別設計。

組件及零部件的技術清潔度非常重要，特別是在汽車和航空航天行業。

CIX100的標準步驟：準備和檢測  
(01:提取, 02:過濾, 03:稱重, 04:檢驗, 05:復審, 06:結果)

簡單，可靠

CIX100清潔度硬件與軟件集成的耐用型高效率系統能夠產出可靠、精確的數據。

• 實現整體解決方案功能性的簡單配置
• 通過穩定不變的系統配置實現精確的可重復性和安全性
• 的光學性能和可再現成像條件
• 通過可再定位和集成校準裝置確保成熟可靠的耐久性
• 確保高性能的全系統集成

實現高效率的直觀引導

CIX100清潔度使用方便的工作流可大大減少用戶操作并確保數據可靠性-無關操作員的經驗水平。

• 分布操作指導可提高生產率，縮短檢測和處理時間
• 用戶權限管理可對功能作出限制，通過限制功能避免操作員處理失誤
• 觸摸屏支持操作員高效操作處理
• 一鍵報告功能可直接進行數據存檔
• 通過檢測結果自動存儲和進行數據分享管理

快速實時分析

CIX100清潔度創新的一體式掃描解決方案讓完成掃描的速度是傳統調節檢偏鏡式檢測系統的兩倍。實時顯示顆粒物的計數和篩選過程，并且配有便于修改檢測數據的強大易用型工具。

• 縮略圖像有助于評估過濾器覆蓋情況、顆粒物類型情況或者劣顆粒物
• 自動實時處理和分類2.5微米至42毫米污染物顆粒
• 通過的一體式掃描技術一次掃描完成反光和非放光物體的探測提高生產率
• 分析和檢測結果實時顯示，實現短反應時間
• 支持兼容標準的檢測結果

高效率的數據評估

CIX100清潔度功能強大且使用方便的工具支持檢測數據修改。支持很多標準確保高靈活性。以節省時間的方式清晰展示所有相關檢測結果。 

• 圖像和數據布局清晰鮮明，提高數據審核效率
• 各種顆粒物視圖的可視化，便于快速識別
• 顆粒物位置與縮略圖與其尺寸圖像鏈接的可靠保證
• 便于對檢測數據進行重新分類、審核修改以及重新計算
• 通過整體清潔度代碼、顆粒物和分類表的實時顯示縮短反應時間
• 通過在一個視圖內顯示全部檢測數據集實現全面控制