IKEIDARIKA池田理化電子顯微鏡JIB-4700F
TM4000 Ⅱ,TM4000Plus Ⅱ,JSM-IT700HR,JSM-IT800,AZtecOne,Quantax75,
Quantax75-60,JIB-4700F,JSM-IT200 InTouchScope,JCM-7000 NeoScope
IKEIDARIKA池田理化電子顯微鏡JIB-4700F
IKEIDARIKA池田理化電子顯微鏡JIB-4700F
TM4000 Ⅱ,TM4000Plus Ⅱ,JSM-IT700HR,JSM-IT800,AZtecOne,Quantax75,
Quantax75-60,JIB-4700F,JSM-IT200 InTouchScope,JCM-7000 NeoScope
日立臺式顯微鏡 Miniscope特征:
直觀的操作支持目標數據創建報告,自動獲取各種數據。
新設計的電子光學系統實現了更高的圖像質量,電子束條件可以根據目的切換,即使在低真空下也可以對二次電子圖像進行三維觀察(僅限TM4000Plus)。
由于無油排氣系統,可以安裝在任何地方電源容量100V,5A,無油泵允許安裝在任何地方。
多種選件，可供選擇能量色散X射線光譜儀，可安裝三維構建和測量軟件。
肖特基場發射掃描電子顯微鏡JSM-IT700HR提供300nA(是傳統型號的15倍)電流的電子槍,讓您在觀察和分析時有余地感。此外,它還有一個側重于簡單操作的用戶界面、緊湊的設計和一個大的樣品室,以及一個重新設計的框架的抗震工廠,使它比實際看到的更容易。有具有低真空能力的LV型號和具有低真空能力和EDS元素分析儀的LA型號。
JSM-IT800配備了用于高分辨率觀察的"鏡頭內肖特基Plus場發射電子槍"、下一代電子光學控制系統"Neo Engine"以及易于使用的高分辨率系統。JSM-IT800具有混合鏡頭版本,即通用FE-SEM,以及超級混合鏡頭版本,可實現更高分辨率的觀察和分析。以及半入式-專門觀察半導體樣品的鏡頭版本。此外,JSM-IT800可配備新型背散射電子探測器、閃爍體背散射電子探測器和多用途背散射電子探測器。SBED可以獲取具有良好響應性和低加速電壓的材料對比圖像。VBED可以獲取3D、不均勻度和材料對比度圖像,因此可以期待獲取到現在無法獲取的信息并改進麻煩的測量。
能量色散 X 射線光譜儀元件特征:
用于固定式SEM的EDS的性能,現在可以安裝在TM4000II的臺式顯微鏡上,該顯微鏡已被采用。
Si3N4窗口用于高靈敏度Si3N4,窗口檢測器。優化低能量X射線的傳輸?？梢詫μ貏e難以檢測的輕元素進行高靈敏度分析。
高 X 射線計數率,與傳統的聚合物窗口探測器相比,Si3N4窗口探測器提高了X射線計數率。實現了快速映射和改進的檢測限。
能量色散X射線光譜儀AZtecOne/AZtecLiveOne特征:
圖標按操作流程順序排列,操作簡單。
通過一致的光譜顯示輕松確認元素重疊。
使用TruMap功能分離并正確顯示具有重疊峰的元素。
能量色散X射線光譜儀Quantax75/Quantax75-60特征:
操作簡單快速的彩色X光圖。
Hypermap可在單次測量中獲得點分析、線分析和繪圖結果。
可以通過移動光點位置來確認光譜。
組合光束加工觀察裝置JIB-4700F特征:快速分析；高速加工；增強檢測系統；可擴展性；3D觀察、3D分析；舞臺聯動功能；圖片疊加系統；
JSM-IT200是一款經濟高效的掃描電子顯微鏡,其功能比型號JSM-IT500更簡單易用。初學者友好的樣品交換導航使設置樣品、搜索視野和開始觀察SEM圖像變得容易。Zeromag等分析作業用軟件,可以像使用光學顯微鏡一樣搜索視野,Live Analysis可以在不注意分析的情況下看到元素分析的結果。
臺式掃描電子顯微鏡 Neoscope JCM-7000 NeoScope特征:
3種觀察模式(高真空、低真空、電荷減少模式)。
觀察區域廣(視場40×40mm)。
可以使用內置的CCD相機獲取支架上樣品的彩色圖像。容易找到視野。
自動對齊會自動調整燈絲軸。
Wehnelt 集成燈絲,任何人都可以更換,并且自動對軸。
