| 儀器型號 | 測量范圍 | 進樣方式 | 光路調(diào)節(jié)方式 | 超聲分散方式 | 儀器尺寸 |
| GSL-1000型 | 0.1～600 μm | 內(nèi)置微量進樣裝置 | 手動光路調(diào)節(jié) | 外置獨立超聲分散儀 | 575x295x253（mm） |
| GSL-1010型 | 0.1～600 μm | 內(nèi)置微量進樣裝置 | 自動光路調(diào)節(jié) | 外置獨立超聲分散儀 | 645x295x279（mm） |
| GSL-1020型 | 0.1～600 μm | 內(nèi)置全自動循環(huán)進樣裝置 | 自動光路調(diào)節(jié) | 內(nèi)置超聲分散裝置 | 940x467x335（mm） |
遼儀牌GSL-1020激光顆粒分布測量儀是本公司在產(chǎn)品GSL-1010基礎(chǔ)上增加了內(nèi)置全自動循環(huán)進樣裝置，其測量范圍為0.1～600μm，可適應(yīng)大多數(shù)用戶對樣品測試范圍的需求。使用全自動循環(huán)進樣裝置，操作簡單，測試速度快，較好地解決了取樣代表性問題，是一款性能穩(wěn)定，性價比突出的激光粒度測量儀器，能滿足科學研究，質(zhì)量控制，產(chǎn)品生產(chǎn)監(jiān)控等用戶的一系列粒度測試需求。
| 序號 | 項目 | 性能指標 | 序號 | 項目 | 性能指標 |
| 1 | 測量范圍 | 0.1～600 微米 | 8 | 激光器 | 半導體激光器，功率5mW |
| 2 | 重復性 | <±0.5%（標樣，Dv50值） | 9 | 通訊端口 | USB 接口 |
| 3 | 復現(xiàn)性 | <±0.75%（標樣，Dv50值） | 10 | 進樣方式 | 微量進樣裝置 |
| 4 | 系統(tǒng)誤差 | <±1%（標樣，Dv50值） | 11 | 樣品池容積 | 40 ml |
| 5 | 測量原理 | 全程Mie散射理論 | 12 | 攪拌速度 | 100～800轉(zhuǎn)/分鐘，連續(xù)可調(diào) |
| 6 | 采樣通道 | 75 | 13 | 外形尺寸 | 645x295x279（mm） |
| 7 | 自動對中機械精度 | 光點平均每次移動間距：5.2um |
| 測量結(jié)果準確性好 |  | ||
| 測量原理為全程Mie Scattering理論，結(jié)合本公司的反演算法，加之精密的機械、光學系統(tǒng)設(shè)計、*的電子元器件，在理論和性能上保證了測量結(jié)果的準確性。 | |||
| 測量范圍寬 | |||
| 前向散射光接收采用本公司技術(shù)交叉扇形大尺寸主光電探測陣列（66個通道）、高靈敏度雙側(cè)向光電探測陣列（每側(cè)4個通道），使單透鏡測量范圍達0.1～600μm，可測量D50從300～400nm直至400～500μm的眾多樣品，以滿足大多數(shù)用戶對粒度測量范圍的需要。 | |||
| 測量重復性好 | |||
| 儀器設(shè)計采用高靈敏度光電探測陣列，低噪聲信號放大器，高位模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，保證電路部分噪聲降至。使用進口半導體激光器（壽命長達25000小時）及本公司自行研制的激光準直系統(tǒng)，激光光斑能量分布均勻，形狀規(guī)則。進樣系統(tǒng)具有轉(zhuǎn)速調(diào)節(jié)裝置，保證樣品在測量窗口中分布均勻。以上種種措施確保儀器測量結(jié)果具有良好的重復性。 | |||
| 測試速度快 | |||
| 高速采樣系統(tǒng)，采樣速度達到4500次/秒；全隔離USB2.0通訊接口，提高了通訊速度；采用微量進樣系統(tǒng)，樣品制備過程簡單，清洗速度快。一般在20秒之內(nèi)，就可以完成一次測試過程。 | |||
| 測量軟件功能完備 | |||
| 儀器采用電腦進行實時控制，自動完成數(shù)據(jù)采集、分析處理、結(jié)果保存和打印等功能,操作簡單,自動化程度高。測量軟件具有SOP功能，數(shù)據(jù)庫功能以及多種數(shù)學模型，功能完備，操作簡單，易學易用。 | |||
- GSL-1020激光顆粒分布測量儀具有內(nèi)置、全自動、四象限光學調(diào)整系統(tǒng)，調(diào)整系統(tǒng)的運行全部由粒度儀主機和電腦進行控制，無需人工干預。調(diào)整系統(tǒng)可自動對光路進行精確調(diào)整，有效地避免由于運輸、振動等造成的光路偏移，而導致的測試結(jié)果出現(xiàn)偏差等問題的發(fā)生，提高了測試結(jié)果的準確性。
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- 1.基本功能：樣品測試、保存/打印、分析報告等。
- 2.高級功能：
- 1)sop功能：對常用的樣品制備方式、樣品參數(shù)、分散劑參數(shù)、測試參數(shù)等數(shù)據(jù)進行歸納，保存成SOP文件，如需要對此樣品進行測試，可以直接調(diào)用此SOP文件并啟動SOP測量方式，方便用戶測量，無需另行輸入相關(guān)測試參數(shù)。
- 2)自動標定系統(tǒng)：激光顆粒分布測量儀具有國內(nèi)的數(shù)據(jù)自動標定系統(tǒng)，本系統(tǒng)可根據(jù)已知的標準樣品的數(shù)據(jù)，對儀器進行自動標定。
- 3)數(shù)據(jù)庫功能：可將常用的樣品及分散劑折名稱、折射率、吸收率、樣品的制備信息等保存到數(shù)據(jù)庫中，以方便下次直接調(diào)用，無需另行輸入。
- 4)截圖功能：若儀器出現(xiàn)故障導致采樣圖形雜亂，可截取當前狀態(tài)屏幕圖像傳給調(diào)試工程師，方便指導故障排除及維修。
- 3.報告存儲模式：專用的GSL格式（測試軟件打開）、PDF格式、BMP格式、EXCEL格式。
- 4.語言：中、英文切換。
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- 1.電源設(shè)計：具有EMI防電磁干擾、防雷擊 、防浪涌等設(shè)計功能，提高了對供電電源的適應(yīng)性，同時也可以有效地避免由于雷擊、過壓等情況可能造成的儀器意外損壞。
- 2.高速采樣，高精度AD變換系統(tǒng)，保證了對微量樣品的精確分析。
- 3.全隔離高速USB2.0通訊接口，與電腦通訊速度可以達到468000kB，通訊速度快，采用隔離供電，抗干擾性強，同時避免了劣質(zhì)電腦對儀器的傷害。
- 4.全半導體器件硬件設(shè)計，儀器開機后，無需預熱時間，即可達到穩(wěn)定的測試效果。
- 5. 儀器內(nèi)置溫、濕度檢測裝置，實時檢測儀器內(nèi)部的溫度，濕度變化，避免由于溫、濕度造成的測量結(jié)果偏差。
