自動化Contour Elite X三維光學剖面儀結合了****的測量能力，在業界*大的視野和高保真度彩色或單色成像的*高垂直分辨率。沒有任何其他計量系統提供非接觸式精度、吞吐量、操作人員方便和成像能力來解決如此廣泛的生產計量應用。為滿足*苛刻的研發、質量保證和過程質量控制需求而設計，Contour Elite X提供了*終的量具能力三維光學剖面解決方案。
彩色成像與計量相結合
額外的高保真彩色成像，一家側照明和**的算法，使等Contour Elite X用戶訪問額外的視角，無法提供的系統，單獨提供計量學，以及提供可識別的表面特征細節的報告能力。這使用戶能夠根據顏色或灰度信息分割數據，以快速選擇感興趣的區域，并從這些特定區域收集關鍵的計量數據。將優異計量學與觀察、識別和顯示測量結果的能力結合起來，不僅對于理解數據，而且對于交流結果，都是非常重要的。
*佳橫向和縱向分辨率
Contour Elite X系統擁有*好的組合橫向和縱向分辨率超過行業的*大視野，有一個亞納米到大于10毫米的垂直范圍。它包括研發100獎的針灸XR測量技術，它提供了打破衍射極限在您的光學測量。此外，該系統還可以使用一個百萬像素的相機來提高X-Y空間分辨率.從1倍到115倍的大視場和客觀放大使得能夠描述極其廣泛的表面形狀和紋理。
快速無損成像
Contour Elite X型剖析器是一個非接觸系統與一個大的舞臺，使您的樣本或部分完整和未損壞。我們的*利白光干涉測量(WLI)技術獲得高度數據的亞納米精度，是獨立于放大使用。這意味著，即使在一毫米范圍內采樣超過一百萬個數據點--平方圖像區域，用戶也能夠在幾秒鐘內收集到高分辨率的高度數據。
