德國(guó)FISCHER X-RAY設(shè)備遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497標(biāo)準(zhǔn)，主要基于WinFTM™ V6L核心控制軟件的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。采用全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法,采用的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及強(qiáng)大的電腦功能來(lái)進(jìn)行鍍層厚度的計(jì)算，在加強(qiáng)的軟件功能之下，簡(jiǎn)化了測(cè)量比較復(fù)雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測(cè)量。儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量，而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。歡迎隨時(shí)或親臨我司測(cè)試及參觀!!! FISCHER X-RAY 膜厚儀采用真正的基本參數(shù)原理（FP）來(lái)測(cè)量厚度，
準(zhǔn)。德國(guó)菲希爾 FISCHER成立 1953 年是世界上專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)涂鍍層測(cè)厚儀zui早的廠家之一, 其電鍍膜厚儀占世界 80%市場(chǎng)， 德國(guó)菲希爾 FISCHER 已成為鍍層厚度測(cè)量和材料測(cè)試儀器領(lǐng)域*的*
可測(cè)量：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。 
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 
zui多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。 
分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。 
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。