GCSTD-D
一、滿足標準：
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法
GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數的測試方法
二、試驗方法：
接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料
非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料
電極類型：固定電極-測量電極φ38mm/φ50mm(標配電極1套，標配為38mm)
粉體電極-根據樣品量可配專用電極
試樣類型：固體、液體、粉體、膏體/規則物或者不規則物
三、性能特點
四、簡要介紹
測試材料：
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
五、隨機配置
1、主機：1臺
2、測試電極：1套
3、數據線：1套
4、電源線：1根
5、合格證：一份
6、測試系統：一套
六、技術參數
測試參數 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
測試頻率 |
| 20 Hz～2MHz,10mHz步進 |
測試信號電 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
輸出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本準確度 | 0.1% | |
| L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH |
| C | 0.0001 pF ～ 9.9999F |
| R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ |
顯示范圍 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
| D | 0.0001 ～ 9.9999 |
| Q | 0.0001 ～ 99999 |
| θ | -179.99°～ 179.99° |
測量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校準功能 | 開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準 | |
等效方式 | 串聯方式, 并聯方式 | |
量程方式 | 自動, 保持 | |
顯示方式 | 直讀, Δ, Δ% | |
觸發方式 | 內部, 手動, 外部, 總線 | |
內部直流偏 | 電壓模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進 |
置源 | 電流模式（內阻為50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進 |
比較器功能 | 10檔分選及計數功能 | |
顯示器 | 320×240點陣圖形LCD顯示 | |
存儲器 | 可保存20組儀器設定值 | |
| USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | |
| USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | |
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB（選件） | ||
七、主機圖
八、測試界面：
