關鍵詞：
激光測量儀 橢偏儀光源 橢偏儀 橢偏儀設備 激光測高儀精度
產品用途：
BX-G103激光橢偏儀可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；亦可用于實時測量納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的絕對厚度測量。
儀器特點：
l 測量方法：Delta測量范圍0-360o，無測量死角問題（即使在0o或180o附近時也具有很高的準確度），也可消除粗糙表面引起的消偏振效應對結果的影響
l 原子層量級的高度靈敏度和準確度：高穩定的核心器件、高質量的制造工藝實現并保證了很高的準確度和穩定性
l 百毫秒量級的快速測量：在保證精度和準確度的同時，可在幾百毫秒內快速完成一次測量，可滿足快速多點檢測和批量檢測需求
l 精準方便的樣品對準：視頻式自準直樣品方位精密對準系統，精度高、操作方便
l 簡單方便的儀器操作：一鍵操作即可完成復雜的樣品測量和分析；按照質控要求進行數據多種導出；豐富的模型庫和材料庫方便用戶的高級操作；管理員/操作員不同的模式，保證儀器安全
技術參數：
