重慶汗丁直銷Keithley吉時(shí)利DMM7512雙通道7?位采樣萬(wàn)用表
重慶汗丁直銷Keithley吉時(shí)利DMM7512雙通道7?位采樣萬(wàn)用表產(chǎn)品概述:
兩個(gè)DMM7510內(nèi)置于一個(gè)緊湊型機(jī)箱中
DMM7512由兩個(gè)獨(dú)立的,相同的,7?位DMM7510數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)組成,具有少量測(cè)量功能。兩個(gè)DMM7512數(shù)字萬(wàn)用表具有與DMM7510相同的精度,靈敏度和速度,因此DMM7512可以無(wú)縫集成到以前使用DMM7510的測(cè)試系統(tǒng)中。
強(qiáng)調(diào)
- 使用1Msample / s,18位數(shù)字化儀對(duì)復(fù)雜波形進(jìn)行采樣; 存儲(chǔ)高達(dá)2750萬(wàn)讀數(shù)
- 測(cè)試用于低功率電路的元件,具有0.1μΩ和1 pA的靈敏度
- 使用高達(dá)14 ppm的1年精度直流電壓,以高測(cè)試不確定度比率*大化測(cè)試質(zhì)量
- 內(nèi)置測(cè)試腳本處理器(TSP ®)使測(cè)試序列執(zhí)行而不控制器相互作用,從而減少測(cè)試時(shí)間和通信開(kāi)銷,而援用其他任務(wù)控制器
重慶汗丁直銷Keithley吉時(shí)利DMM7512雙通道7?位采樣萬(wàn)用表產(chǎn)品測(cè)試:
雙測(cè)試系統(tǒng)密度
在1U高機(jī)架空間內(nèi)使用兩個(gè)DMM節(jié)省寶貴的機(jī)架空間。與兩個(gè)2U高DMM7510相比,您可以在一半的空間內(nèi)獲得兩倍的測(cè)量能力。
強(qiáng)調(diào)
- 將采購(gòu)和測(cè)量與2606B高密度,4通道源測(cè)量單元(SMU)和DMM7512相結(jié)合,可實(shí)現(xiàn)4通道采樣和2通道測(cè)量,機(jī)架空間僅為2U
- DMM7512或2606B之間無(wú)需額外的熱管理間隔

顯著縮短測(cè)試時(shí)間
在每個(gè)DMM7512這兩個(gè)數(shù)字萬(wàn)用表有內(nèi)置的智能,而無(wú)需使用其測(cè)試腳本處理器(TSP PC交互執(zhí)行測(cè)試程序®)技術(shù)。此外,每個(gè)DMM設(shè)有TSP-Link的®硬件接口,使得一個(gè)儀器可以控制在一個(gè)主從配置中的其它儀器。
強(qiáng)調(diào)
- 在TSP-Link測(cè)試系統(tǒng)中*多可控制32臺(tái)儀器
- 以低于500 ns的延遲同步測(cè)量
- 消除儀器和PC之間耗時(shí)的通信
- DMM7512 TSP代碼與DMM7510 TSP代碼兼容
重慶汗丁直銷Keithley吉時(shí)利DMM7512雙通道7?位采樣萬(wàn)用表產(chǎn)品應(yīng)用:
Determine power consumption
Use the two DMMs of the DMM7512 to independently capture dynamic battery drain current and battery voltage and compute power consumption of low power, wireless IoT, and implantable/portable medical products, a critical parameter for battery-operated devices.
- Capture current and voltage waveforms with up to 1 Msample/s, 18-bit digitizing
- Synchronize waveform capture using TSP-Link with less than 500 ns latency between initiation of waveform sampling
- Measure low sleep mode current with 1pA DCI sensitivity or 0.1nA current digitization sensitivity

Increase throughput with multi-device testing
Use the two DMMs in a DMM7512 to test two devices-under-test (DUTs) to double test throughput and maximize test system capacity. Or, use multiple DMM7512s and test even more DUTs with one test system. Save on the number of test racks and save critical factory floor space with the 1U high dual DMMs.
Highlights
- 1U rack height with no spacing between instruments required
- Two DMMs per instrument
- Control multiple instruments with a test script and TSP-Link to reduce bus communication time and save test time
重慶汗丁直銷Keithley吉時(shí)利DMM7512雙通道7?位采樣萬(wàn)用表