完整的生產測試，無需犧牲空間

滿足您的所有生產測試需求，在同一空間內有兩條*隔離的寬動態源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設定值的 0.1% 范圍內，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

特點：

在同一空間內可有 2 條通道

最寬的電壓和電流動態范圍

高度準確的 100 µs 脈沖可擴展直流生產測試能力

嵌入式腳本提供的生產吞吐量

滿足您的所有生產測試需求，在同一空間內有兩條*隔離的寬動態源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設定值的 0.1% 范圍內，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

特點：

消除與 PC 之間耗時的總線通信

高級數據處理和流量控制

通用型探頭/處理程序控制

系統性能，無主機

TSP-Link® 技術支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。<500 ns 時所有通道同時獨立受控。

特點：

支持<500 ns 通道間同步

可達 32 條或 64 條獨立 SMU 通道

隨著測試要求變化輕松重新配置

適合生產的低電流性能

2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范圍內提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產成功。

特點：

在電流范圍內穩定時間快 7 倍

具有市面上的低電流分辨率

直接三芯同軸連接簡化了設置

學習更多， 獲得更多。

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