1、產品特點：
EIGER2 R CdTe X射線探測器將混合像素光子計數探測器的發展和碲化鎘感光器件的高量子效率集合在一起。對于使用高能量 X 射線源或需要雙閾值設置時， EIGER2 R CdTe是好的選擇。
DECTRIS 公司即時觸發技術使他們具有高超的高計數率能力，可以更精確地測量實驗室X射線源所能達到的強度。EIGER2 R CdTe探測器具有兩個能量閾值，所以與上一代探測器相比，它在環境背景下擁有更低的暗電流和背景噪音。這大大提高了弱信號和長時間曝光的信噪比，使得它在更短的測量時間下能獲得更好的數據質量。單光子計數與計數器連續讀/寫技術相結合，克服了傳統積分探測器容易飽和以及動態范圍有限的問題。此外，感光像素直接將X射線轉化為電信號，配合 75μm的小像素尺寸使得探測器具有更高的空間和角度分辨率。
2、核心優勢：
– 針對高能射線有高超的量子效率、更短的測試時間和更高質量的數據
– 即時觸發技術使得計數率大幅度提高
– 雙能閾值，可用于低背景和高背景的抑制
– 無讀出噪音和暗電流，確保了好的信噪比
– 計數器具有同時讀/寫功能，確保了高動態范圍和無飽和的圖像
3、應用領域：
- 大分子晶體學（MX）；
- 化學結晶學；
- 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS）；
- μCT；
- 高壓晶體學；
技術參數：
型號 | EIGER2 R CdTe 500K | EIGER2 R CdTe 1M | EIGER2 R CdTe 4M | EIGER2 R CdTe 2M-W | EIGER2 R CdTe 1M-W |
有效面積：寬x高 [mm2] | 77.1 X 38.4 | 77.1 x 79.7 | 155.1 x 162.2 | 311.1 x 38.4 | 155.1 x 38.4 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||
總像素數量 | 1028x512 | 1028 x 1062 | 2068 x 2162 | 4148 x 512 | 2068 x 512 |
幀頻* [Hz] | 100 | 100 | 20 | 50 | 100 |
計數器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
讀出時間 | 連續讀數 | ||||
點擴散函數 | 1 pixel | ||||
傳感器材料 | CdTe | ||||
傳感器厚度 [μm] | 750 | ||||
能量范圍 [keV] | 8-25 (8-100, with optional extended energy range calibration) | ||||
計數率 [ph/s/pixel] | 5.5 x 106 | ||||
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 |
重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 9.7 | 5.8 |
冷卻方式 | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） |
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