1、核心優勢：
- 混合成像計數：單光子成像計數模式下的X射線直接轉換能力
- 千赫幀速率占空比> 99%
- 75μm像素尺寸的高空間分辨率
- 優秀的點擴散函數
- 無讀出噪聲和暗電流
- 極其緊湊的外殼
2、應用領域：
-X射線光子相關光譜(XPCS)
- Ptychography(疊層衍射)成像技術
- 時間分辨實驗
- 大分子晶體學(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)
- X射線成像
技術參數：
型號 | EIGER2 X 500K | EIGER2 X 1M | EIGER2 X 4M | EIGER2 X 9M | EIGER2 X 16M | EIGER2 XE 9M | EIGER2 XE 16M |
有效面積：寬x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||||
總像素數量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148X4362 | 3108 x 3262 | 4148X4362 |
間隙寬度, 水平/垂直（像素） | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
幀頻* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
計數器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
讀出時間 | 連續讀數 | ||||||
點擴散函數 | 1 pixel | ||||||
傳感器材料 | Si | ||||||
傳感器厚度 [μm] | 450 | ||||||
能量范圍 [keV] | 6-40 | ||||||
計數率 [ph/s/pixel] | 107 | ||||||
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 41 | 55 | 41 | 55 |
冷卻方式 | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） |
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