NPFLEX 三維表面測量系統

針對大樣品設計的非接觸測試分析系統
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節
快速獲取測量數據，測試過程迅速高效

• 創新性的空間設計使得可測零件（樣品）更大、形狀更多
• 開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位

高效的三維表面信息測量

• 每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的
• 更容易獲得更多的測量數據來幫助分析

垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節

• 干涉技術實現每一個測量象素點上的亞納米級別垂直分辨率
• 工業界使用多年業已驗證的干涉技術提供具有統計意義的數據，為日漸苛刻的加工工藝提供保障

測量數據的快速獲取保證了測試的迅速和高效

• 最少的樣品準備時間和測量準備時間
• 比接觸法測量（一條線）更大的視場（一個面）獲得表面更多的數據

為客戶量身訂做最合適的儀器配置NPFLEX在基本配置的基礎上，還有很多備選的配件和配置方案，滿足不同客戶的測量需求：?    可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位，測量樣品的側壁、傾斜表面以及斜面邊緣，重復性好。?  獲得研發大獎的透過透明介質測量模塊(Through Transmissive Media，TTM)模塊,，結合環境測試腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可對樣品進行加熱或者冷卻，進行原位測量。?  可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側壁和底部孔洞。納米級分辨率的三維表面信息測量大家對很多樣品的表面性質感興趣，但是要獲得這些品性質，需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應用在航空航天，汽車，醫療植入產業的大尺寸樣品，往往只能借助于二維接觸式檢測工具進行表征，獲得的只是一條線測量數據。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓，但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細節信息。NPFLEX測試系統采用白光干涉原理，在每一個測量點可以實現表面形貌的三維信息收集，且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數據不受探針曲率半徑的局限，高效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結果，更多的測量數據來幫助分析樣品性質。 快速獲取數據，保證測試迅速高效NPFLEX三維測量系統，能夠靈活高效的獲取大量測試數據。大大縮短了樣品制備時間和測量方案設置時間，操作者可以快速更換樣品，而且無需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下，對樣品的不同表面進行測量。僅需要不到15秒的時間，就可以出色地完成一個測量點的數據采集和分析工作。自動對焦，光強調節以及其他配套軟件功能，大大節約了測試分析時間，而且可以根據操作者的實驗需求，量身定做化的實驗方案，而不影響數據的精度和質量。利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準確地獲得大型零部件的高精度測量結果，提供一站式的測量解決方案。