美國APT四線法開爾文探針夾具
APT開爾文探針適用于四線法測試，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響，提供小電阻的測試準(zhǔn)確性。另外，一些高頻測試，比如
150M左右，也可以采用這個。Currentleakage:150MHz
美國APT四線法開爾文探針夾具
APT開爾文探針適用于四線法測試，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響，提供小電阻的測試準(zhǔn)確性。
另外，一些高頻測試，比如150M左右，也可以采用這個。
美國原裝APT探針，主要具備如下特點：
Current leakage:<10 fA. （漏電精度高）
Frequency: > 150 MHz （測試頻率高）
Capacitance (Guarded):<10 fF
Impedance: 50 Ohm
Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C
Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level
此探針需要配合探針座和探開爾文夾具使用。其中，每個夾具都自帶一根探針。
我司常年有現(xiàn)貨，貨期有保障。
美國APT四線法開爾文探針夾具
下面是一些APT探針的實物照片供參考。
優(yōu)測國芯電子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半導(dǎo)體和自動化設(shè)備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術(shù)企業(yè)。我們集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)于一體，不僅擁有*的生產(chǎn)設(shè)備、加工工藝及品質(zhì)檢測體系，也擁有涉及材料、物理、化學(xué)、微電子、機(jī)械等專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊。現(xiàn)在主營的產(chǎn)品有：4寸、6寸、8寸、12寸手動探針臺、高壓大功率探針臺、真空高低溫探針臺，半自動探針臺，全自動探針臺等，可以完成I-V/C-V測試，脈沖I-V測試，RF/mmW測試，高壓、大電流測試，MEMS、光電器件等測試。專業(yè)的設(shè)計人員也可以按客戶的要求量身定制，如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽能發(fā)生器、多普勒測試儀、積分球等，在常規(guī)探針臺功能上進(jìn)行延伸拓展來滿足不同客戶的測試需求。
