1．儀器特點
1.1輻射防護
1.2多規格樣品倉
1.3 X-Y可移動樣品平臺
．
1.4 X-Ray探測器
1.5多種規格測試光斑
1.6小細節大智慧
X射線探測器
●美國Amptek X-123 Si-PIN:
●Be窗厚度:1mil
●晶體面積:25mm 2
●信號處理系統:DP5
●分辨率:145eV
●整體
X射線管
●輸出電壓：0~50kV
●燈絲電流：0~2mA
●功率：50W
● 靶 材：Mo
●Be窗厚度：0.2mm
●使用壽命：2萬小時
高壓電源
● 輸出電壓：0~50kV
● 燈絲電流：0~2mA
●功率：50W
●8小時穩定性：0.05%
攝像頭
●微焦距
●免驅動
●500萬像素高清攝像頭
●高清攝像頭，還具備放大功能，當樣品含有雜質或由幾個部分組成時，可以通過CCD管理器精確定位測量位置。通過樣品倉上的透明玻璃門，可以隨時觀察正在測試中的樣品。
光路系統
●多種濾光片、準直器自動切換
●Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可任選4種X射線光斑
●根據用戶應用實際需求配置或定制X射線光斑。
開關電源
●進口高性能開關電源
散熱風扇
●進口低噪聲、大風量風扇
● 外形尺寸 ：650mm×650mm×970mm
●樣品倉尺寸：650mm×650 mm×630 mm
●儀器凈重：50kg
●供電電源：AC220V/ 50Hz
●功率：330W
● 工作溫度：15-30℃
●相對濕度：≤85%，不結露
