F50 系列自動膜厚測量系統能以每秒測繪兩個點的速度快速測繪薄膜厚度,一個電動R-Theta 平臺可接受標準和定制化夾具,樣品直徑可達450毫米。測繪圖案可采用極坐標、矩形或線性方式,您也可以創造自己的測繪方法,并且不受測量點數量的限制,F50軟件中內建數十種預定義的測繪圖案。
不同的 F50 儀器是根據波長范圍來加以區分的, 標準的 F50是的產品, 一般較短的波長 (例如, F50-UV) 用于測量較薄的薄膜,而較長的波長則用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
全光科技(北京)有限公司位于北京市中關村科技園區昌平園,多年來一直致力于光學技術的應用和推廣,產品涉及光纖通信,光纖傳感,半導體,,科研和教育行業,客戶遍及國內各大高校,科研院所以及高科技企業。
全光科技始終堅信“質量、服務、誠信、創新才是發展的硬道理”,堅持“科技創新、質量優先”的管理信念,“自信源于專業,拼搏成就夢想”是我們的經營理念,我們一直努力為客戶提供質優、價廉、專業、可靠的光學測量儀器及服務。
全光科技目前的合作伙伴主要有美國OEwaves、Luna、General Photonics、Micron Optics(MOI)、LaseGen、Ophir-Photon、Bristol、Filmetrics,加拿大WL Photonics、CodeSScientific、EXFO,德國Novoptel,Toptica,HighFinesse,英國PE fiberoptics,法國Yenista,韓國Sairon Tech,日本Anritsu、Santec和Yokogawa等公司。
F50 系列自動膜厚測量系統能以每秒測繪兩個點的速度快速測繪薄膜厚度,一個電動R-Theta 平臺可接受標準和定制化夾具,樣品直徑可達450毫米。測繪圖案可采用極坐標、矩形或線性方式,您也可以創造自己的測繪方法,并且不受測量點數量的限制,F50軟件中內建數十種預定義的測繪圖案。
不同的 F50 儀器是根據波長范圍來加以區分的, 標準的 F50是的產品, 一般較短的波長 (例如, F50-UV) 用于測量較薄的薄膜,而較長的波長則用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
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