GY-MARS/T 3600型貴金屬分析儀
儀器概述
GY-MARS/T 3600型 貴金屬分析儀是貴金屬分析儀中的中產品。可實現貴金屬、鍍層檢測，符合新國標GB18043-2013。該產品可應用于銀行、技術監督部門、進出口檢疫、金廠等眾多行業。
儀器采用了電制冷SI-PIN半導體探測器，分辨率為149eV。能更好地檢測被測物中的各種元素，降低元素間的干擾，有效測量黃金、鉑金中的銥含量。 6mm2的探測面積，具有優秀的點對點測量能力，避免焊點等影響測量結果的因素。配合來自美國的第五代I型數字信號處理器，分析速度和系統處理能力得到顯著提高，計數率可達200萬，測試穩定性和準確性比以往提高了2倍
儀器特性
1. 符合*飾新標準GB18043-2013。
2. 操作簡便，測量時間短，不需要輔助材料，不需損毀樣品。
3. 全封閉式金屬機箱及防泄漏保護設計，更好地保障操作員的人身安全。
4. 精確的樣品成像準直系統，實現對樣品的準確點測。
5. 的數據分析方法，使測量結果更加精確。
6. 打印機可連續打印測量報告。
7. 具備高含量精密分析模式。可對99.9%（千足金）、99.99%進行有效分析。
8. 自定義工作曲線，可分析多種鍍層厚度。
9. 采用來自美國的*的電制冷SI-PIN半導體探測器，探測面積6mm2，具有優秀的點對點測量能力，分辨率可達149eV，遠優于國標GB18043-2008。因此大大降低了元素間的干擾，可準確檢測鉑金含銥、黃金含銥等復雜成分樣品，防止購回業務中產生誤判帶來經濟損失。
10. 采用來自美國的第五代I型數字信號處理器，數據的穩定性和準確性遠高于國內同類產品。
11. 采用來自美國的高壓電源，配合原廠的數字控制板，穩定性遠高于國內同類產品。
12. 我公司專業設計的X光管保養程序，能有效延長X光管壽命，降低用戶使用成本。
13. 高分辨率圖譜即時顯示，由不同色塊加以判斷區分，清晰明了，易于判別。
2. 操作簡便，測量時間短，不需要輔助材料，不需損毀樣品。
3. 全封閉式金屬機箱及防泄漏保護設計，更好地保障操作員的人身安全。
4. 精確的樣品成像準直系統，實現對樣品的準確點測。
5. 的數據分析方法，使測量結果更加精確。
6. 打印機可連續打印測量報告。
7. 具備高含量精密分析模式。可對99.9%（千足金）、99.99%進行有效分析。
8. 自定義工作曲線，可分析多種鍍層厚度。
9. 采用來自美國的*的電制冷SI-PIN半導體探測器，探測面積6mm2，具有優秀的點對點測量能力，分辨率可達149eV，遠優于國標GB18043-2008。因此大大降低了元素間的干擾，可準確檢測鉑金含銥、黃金含銥等復雜成分樣品，防止購回業務中產生誤判帶來經濟損失。
10. 采用來自美國的第五代I型數字信號處理器，數據的穩定性和準確性遠高于國內同類產品。
11. 采用來自美國的高壓電源，配合原廠的數字控制板，穩定性遠高于國內同類產品。
12. 我公司專業設計的X光管保養程序，能有效延長X光管壽命，降低用戶使用成本。
13. 高分辨率圖譜即時顯示，由不同色塊加以判斷區分，清晰明了，易于判別。
儀器技術指標
1. 外殼尺寸：630×445×400（mm）
2. 測量倉尺寸：360×260×145（mm）
3. 重量：約50kg
4. 適宜溫度：10—28℃ 相對濕度：≤80%
5. 元素分析范圍：硫(S)到鈾(U)
6. 含量分析范圍：1ppm—99.99%
7. 測量精度： ≤0.15％（足金以上精度≤0.1％）
8. 測量時間：100-300 s
9. 分辨率：149evFWHM@5.9keV
10. 探測器類型：電制冷SI-PIN半導體探測器
11. 信號處理器：美國原產第五代I型數字信號處理
10. 探測器類型：電制冷SI-PIN半導體探測器
11. 信號處理器：美國原產第五代I型數字信號處理
12. 電源：交流220v±5v或110v±5v 頻率：47-63 HZ
