產品介紹：
XTU-50A鍍層X射線測厚儀采用下照式設計，快速方便的定位各種形狀的樣品，滿足一切測試所需。其無損變焦檢測：擁有手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm。同時采用*的微聚焦射線裝置：可測試各微小的部件，最小檢測面積可達0.04mm²。高效率的接收器。在檢測0.01mm²以下的樣品時，幾秒鐘也可達到穩定性。精密的手動移動平臺，快速精準定位所需檢測的樣品。
產品廣泛應用于各種金屬的單鍍層，多鍍層，多元合金，甚至對于同種元素在不同層的厚度檢測也能分析，包括輕金屬鍍層，非金屬鍍層，達克羅，Nip鍍層測試，包括Ni與P的比例也均可檢測。
性能優勢：
多種準直器和濾光片電動切換，滿足各種測試方式的應用。新一代高壓電源和X光管，性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率。恒壓恒流快門式光閘，擁有高壓電源緊急自鎖功能，帶給您更安全的防護。
技術參數：
測量元素范圍：CI(17)-U(92)
涂鍍層分析范圍：CI(17)/Li(3)-U(92)
分析軟件：EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素和有機物厚度也可分析
測試程式添加：1862條測試程式免費提供，也可編輯新程式
軟件操作：人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤
X射線裝置：升壓發射一體高分子聚合式W靶微聚焦射線管
接收器：日本東芝正比計數管，窗口面積≥150mm²
射線準直系統：垂直光路交換裝置搭配黃金準直器
視頻觀測光路系統：垂直光路交換裝置搭載100mm變焦鏡頭
測樣讀取開啟方式：恒壓恒流快門式光閘
濾光片：鋁、空、鎳
準直器：ø0.2mm；ø0.5mm；兩準直器任選一種
最近測距光斑擴散度：10%
最小測量面積：約0.04mm²
測量距離：具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異形樣品，變焦距離0-30mm
樣品觀察：1/2.5彩色CCD，全局快門，有效像素：1280*960，變焦功能
對焦方式：高敏感鏡頭（無需增加其他輔助傳感器），手動對焦
放大倍數：光學38-46X，數字放大40-200倍
樣品臺尺寸：500mm*360mm
樣品可放置區域：480mm*320mm*205mm（C型開槽設計，特殊測試時可以超出區域放置樣品）
外部尺寸：540mm*430mm*475mm
移動方式：高精密XY手動滑軌
可移動范圍：40mm*50mm
電源：交流220V 50HZ
功耗：120W（不包括計算機）
冷卻系統：對流通道過濾式風冷
保養升級模塊：軟硬件模塊化
環境要求：使用時溫度：10℃-40℃ 存儲和運輸時溫度：0℃-50℃ 空氣相對濕度：≤80%
重量：約45KG
隨機標準片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu
其他附件：電腦一套、噴墨打印機、附件箱