一、產(chǎn)品簡介
P系列提供了測量各種樣品尺寸，形狀和數(shù)量的靈活性。它配備了一個高精度可編程XY平臺，可在一個固定階段提供多種便利因素。操作員可以使用鼠標和軟件界面輕松移動到所需的測量位置。可以創(chuàng)建多點程序，通過單擊按鈕自動測量多個樣品位置。 精確控制可用于測試關鍵區(qū)域。通過多點編程可以獲得更大的采樣量。標準配置包括一個4位置多準直器組件和一個用于測量凹陷區(qū)域的變焦相機。可以為應用定制準直器和焦距。固態(tài)PIN探測器隨附我們的長壽命微焦點X射線管。SDD檢測器是可選的。
二、產(chǎn)品特點：
P系列提供了測量各種樣品尺寸，形狀和數(shù)量的靈活性。配備一個高精度可編程XY平臺，相對固定平臺，提供了多種便利因素。操作員可以使用鼠標和軟件界面輕松移動到所需的測量位置。可以創(chuàng)建多點程序，通過單擊按鈕自動測量多個樣品位置。精確控制可用于測試關鍵區(qū)域。通過多點編程可以獲得更大的采樣量。三、應用領域
P系列可滿足以下類型用戶的需求:· 小型鍍件領域，如緊固件，連接器或PCB；
· 需要測試多個樣品的多個位置；
· 期望在多個樣品上實現(xiàn)自動化測量；
· 樣品尺寸和應用經(jīng)常變化；
· 保證符合IPC-4552A
四、配置
標準配置包括一個4位置多準直器組件和一個用于測量凹陷區(qū)域的變焦相機。可以為應用定制準直器和焦距。固態(tài)PIN探測器隨附我們的長壽命微焦點X射線管，SDD探測器可選。五、技術參數(shù)
元素測量范圍 | 13號鋁元素到92號鈾元素 |
X射線管 | 50 W（50kV和1mA）微聚焦鎢鈀射線管 |
探測器 | 190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器 |
分析層數(shù)及元素數(shù) | 5層（4層+基材） 每層可分析10種元素，成分分析最多可分析25種元素 |
濾波器/準直器 | 4位置一次濾波器/單規(guī)格準直器 |
焦距 | 可變焦 |
數(shù)字脈沖處理 | 4096 多通道數(shù)字處理器，自動死時間和逃逸峰校正 |
計算機 | 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內(nèi)存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位 |
相機 | 1 / 4“（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
視頻放大倍率 | 30x：標準45x：可選 |
電源 | 150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz |
重量 | 32-50kg |
馬達控制/可編程XY平臺 | 表大小：381mmx 340mm | 行程：152mmx 127mm |
延伸可編程XY平臺 | 表大小：635mmx 635mm | 行程：254mmx 254現(xiàn)在可用擴展舞臺選擇 |
樣品倉尺寸 | 高度：140mm，寬度：310mm，深度：340mm |
外形尺寸 | 高度：450mm，寬度：450mm，深度：600mm |
