■本產品運用了元件測試領域的全新技術，測試能力可達到甚至超越Agilent4363B的水平，提供了****的*高測量速度15ms/次，尤其是解決了長期困擾測試部門低頻測試速度慢的難題，為低頻元件如電解電容器、變壓器的高速測試提供了解決方案。
多種可選的信號源阻抗模式
■不同LCR表由于輸出阻抗的不同可能得到不同的測試結果，TH2825A提供五種可選的阻抗模式以適應不同的需要，保證不同儀表間測試結果的一致性。
恒電平模式適用于多層陶瓷電容器(MLCC)的測量
■陶瓷電容器（MLCC）對測試信號電平極為敏感，TH2825A能以恒定的高電平測試信號高速測量大容量陶瓷電容器，允許在恒定1kHz/1Vrms條件下對高達30μF的MLCC進行測試，100Hz測量可對300μF電容器提供恒定的1Vrms測試信號。
強大的變壓器測試能力
■TH2825A具備變壓器測試能力，使用專門的變壓器測試夾具，無須改變測試線方式便可方便地測量匝數比（N，1/N）、互感（M）、初次級電感（LA、LB），初次級直流電阻（DCR2）。有-5V-5V偏置電壓（僅TH2825A），可方便地用于通訊變壓器和小功率扼流圈的測試。
■該產品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令與Agilent
與儀表的接口兼容性
性能特點：
■ 超高速測量：15ms(測試頻率≥100Hz時)
■ 大型LCD(240×64點陣)顯示
■ 人性化引導式操作界面
■ 50Hz－100kHz, 10個典型測試頻率
■ 10mVrms—1.0Vrms可編程測試電平
■ 內部DC偏流源高達200mA（使用25Ω內阻）
■ 準確的負載校準功能
■ 4種可選源阻抗模式，便于兼容不同LCR表的測試一致性
■ 4點頻率/電平/偏流列表掃描功能
■ 變壓器參數測量能力
■ 12組內部儀器設定儲存
■ 內建9檔比較器，分選及檔計數
■ 具有良品/非良品（Hi/Go/Low）警示聲響判定功能
■ 測試電平V/I監視功能
■ 與Agilent 4263B兼容的Handler接口
■ 與Agilent4263B兼容的IEEE-488控制命令
技術參數：
型號 | TH2825A | ||
顯示器 | 240x64點陣LCD顯示器，5位讀數分辨率 | ||
測試參數 | LCR參數 | |Z|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR | |
變壓器參數 | DCR，DCR2，M,N，1/N，LA，LB | ||
測試頻率 | 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10點 | ||
測試電平 | 10mVrms-1.0Vrms,1mV步進＜200mV10mV步進≥200mV | ||
信號源內阻 | 25Ω，100Ω，25Ω/100Ω，C.V.（恒壓） | ||
DC偏置電流（≥1kHz） | 當100Ω內阻時，±50mAMax當25Ω內阻時，±200mAMax | ||
基本測量準確度 | 0.1% | ||
| |Z|,R,X | 0.01mΩ—99.99MΩ | |
| G,B | 0.0001μS—999.99S | |
| C | 0.001pF—1.9999F | |
| L | 0.001μH—99.9999kH | |
| Q | 0.0001—9999 | |
顯示范圍 | D | 0.0001—9999 | |
θ(DEG) | -180.00°—180.00° | ||
| θ(RAD) | -3.1415—3.1415 | |
| Δ% | -999.99%—999.99% | |
| TurnsRatio | 0.001—9999.9 | |
| DCR | 0.1mΩ—99.99MΩ | |
| M,L2 | 0.001μH—99.99kH | |
測量速度（≥100Hz） | 快速:15ms（注1）,中速:66ms,慢速:500ms | ||
等效電路 | 串聯,并聯 | ||
量程方式 | 自動,保持/手動切換 | ||
觸發方式 | 內部,手動,外部，總線 | ||
平均次數 | 1—255 | ||
校準功能 | 開路,短路,負載校正 | ||
測量端 | 5端 | ||
顯示方式 | 直讀,ΔABS,Δ%,V/I(電壓/電流監示),檔號及檔計數 | ||
列表掃描 | 4點頻率,電平列表掃描測試 | ||
比較器功能 | 九檔（八檔合格，一檔不合格） | ||
上超/合格/下超比較器 | |||
存儲器 | 12組內部儀器設定供存儲/調用 | ||
接口 | RS-232C,HANDLER,GPIB(選件) | ||
| 4263B*兼容，為與4263B的互換提供了良好的條件。 | ||
| 注1：快速測試時間包括A/D、計算、主/副參數小字符顯示比較判別。若包括測試參數大字符顯示，*快測試時間另加5ms。 | ||
